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E-mail
michael.han@sypht.com.cn
- Telefone
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Endereço
Kechuang Park, distrito de Wujiang, Suzhou, província de Jiangsu
Categorias do produto
Safet Instrumentos Científicos (Suzhou) Co., Ltd.
Microscópio eletrônico de varredura de emissão térmica
NegociávelAtualização em01/30
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
Microscópio eletrônico de varredura de emissão térmica JSM-IT710HR Visibilidade clara promove novas descobertas! Atualmente, além da resolução e do desempenho analítico em nanoescala, a capacidade de processamento da coleta de dados também é considerada importante. O JSM-IT710HR é a quarta geração da série HR* da JEOL, baseada na filosofia de “SEM para imagens de alta resolução que qualquer pessoa possa capturar facilmente”. A automatização das operações e a melhoria do desempenho de observação do nJSM-IT710HR permitem que o usuário explore o desconhecido a partir do visível.
Detalhes do produto
///Vai além do que se vê, explora o desconhecido///
JSM-IT710HR Redução de Carga: Amostra fornecida por: Professor de Engenharia Biológica, Faculdade de Engenharia, Universidade Agrotécnica de Tóquio
JSM-IT710HR Análise da estrutura cristalina: amostra fornecida pelo Instituto de Materiais e Materiais (NIMS)
Novos recursos
Observação automática: SEM/EDS simples
O Simple SEM automatiza os testes ao definir várias condições de uma só vez, aumentando a produtividade diária.
Live 3D: 3D em tempo real
Imagens 3D ao vivo podem ser vistas com baixas taxas de ampliação.
3. JSM-IT710HRMicroscópio eletrônico de varredura de emissão térmicaDetector eletrônico secundário de mistura de baixo vácuo (LHSED)
O LHSED é um novo tipo de detector de baixo vácuo capaz de alternar observações entre informações de emissão de luz e perfiles.
Estabilidade do disparo de armas eletrônicas no campo de base Short melhora mais de quatro vezes
> Ajuste automático do feixe eletrônico
O JSM-IT7010HR pode ser ajustado automaticamente desde o eixo de fusão até a dispersão, sem necessidade de um manual complicado.
> Sistema de inspeção eletrônica secundária
amostra esquerda: penas de pavão, amostra direita: microfibra de celulose
> Alta resolução e grande fluxo
O JSM-IT710HR integra uma arma eletrônica de lançamento de campo de Short e um foco focal para manter uma pequena mancha de feixe enquanto gera um grande fluxo, permitindo observações e análises de alta resolução.
> Sistema de detecção eletrônica de dispersão posterior
O novo detector de dispersão traseira multi-segmentação pode capturar informações de dispersão traseira em quatro direções ao mesmo tempo, gerando imagens 3D simples e exibindo-as em tempo real.
Todas as análises começam com Zeromag
Usando imagens ópticas Zeromag, a capacidade de pesquisa do campo de visão é melhorada; As imagens SEM são ligadas a imagens ópticas para simplificar a observação, análise e testes automatizados.
6. JSM-IT710HRMicroscópio eletrônico de varredura de emissão térmicaIntegração EDS
Além da SEM, a JEOL também produz e vende EDS independentemente. Esta vantagem permite a operação e gerenciamento centralizados das imagens de observação do SEM e os resultados da análise do EDS, melhorando a operabilidade e a capacidade de gerenciamento de dados.
7. Microscópio eletrônico de varredura de emissão térmicaAnálise de fase
O EDS da JEOL aumenta a capacidade de análise de fase, permitindo a análise da distribuição superficial de cada substância (composto / monómero).
Amostra: secção de lâmina de corte de precisão
A análise de fase mostrou diferenças nos componentes das regiões ricas em Co, Cu e Sn.
Área co: 68,15%
CuSn (CuRich) área: 16.25%
CuSn (SnRich) área: 14.54%
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