Espectrómetro fotoeletrônico de raios X Nexsa

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Visão geral

Thermo Scientific Nexsa Os sistemas de espectrômetro fotoeletrônico de raios X (XPS) oferecem análises multitécnicas totalmente automáticas e de alto fluxo, mantendo resultados analíticos de alta qualidade de nível de pesquisa. A integração de várias tecnologias de análise, como ISS, UPS, REELS e Raman, permite que os usuários realizem análises multitecnológicas conjuntas no sentido real, liberando o potencial para avançar ainda mais no desenvolvimento de microeletrônica, filmes ultrafinos, nanotecnologia e muitas outras aplicações.

Detalhes do produto

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X NexsaDescrição:

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X NexsaAnálise e desenvolvimento de materiais

O espectrômetro de energia Nexsa oferece flexibilidade analítica para maximizar o potencial dos materiais. A flexibilidade é fornecida sob a forma de combinações multi-tecnológicas opcionais, mantendo os resultados em nível de qualidade de pesquisa, permitindo uma verdadeira combinação multi-tecnológica de detecção analítica e alto fluxo.

Funcionalidades padronizadas geram desempenho poderoso:

· Análise de isolantes

• Desempenho XPS de alto desempenho

· Análise Profunda

• União Multitecnológica

· Fonte de íons de modo duplo para expandir a função de análise profunda

· Módulo de inclinação para medições ARXPS

Software Avantage para controle de instrumentos, processamento de dados e produção de relatórios

· Análise de pequenas manchas

Atualização opcional: integre várias técnicas de análise em sua análise de detecção. Execução automática

· ISS: espectroscopia de dispersão iónica, analisando a informação dos elementos da camada atómica 1-2 mais superficial do material e analisando algumas informações de abundância de isótopos através da distinção de massa.

UPS: espectro fotoeletrônico ultravioleta para análise de informações estruturais de nível de energia e função de superfície de materiais metálicos / semicondutores

Raman: Tecnologia espectral de Raman para fornecer informações de impressões digitais a nível da estrutura molecular

REELS: espectro de perda de energia eletrônica refletida para a detecção de conteúdo de elemento H e informações sobre a estrutura de nível de energia do material e a brecha de banda

Concentre-se nas características da amostra com a visão óptica do SnapMap. As visualizações ópticas podem ajudá-lo a localizar rapidamente as áreas de interesse, ao mesmo tempo que geram imagens focadas do XPS para configurar seu experimento ainda mais.

1.Raios X irradiar uma pequena área na amostra.

Recolha fotoeletrônicos dessa pequena área e coleta-os no analisador

3. À medida que o banco de amostras se move, coleta constantemente o mapa dos elementos

Monitore as posições do banco de amostras durante todo o processo de coleta de dados, onde a imagem gráfica é usada para gerar o SnapMap

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X NexsaÁrea de aplicação

· Bateria

· Biomedicina

· Catalisador

· Cerâmica

· Revestimento de vidro

· Grafeno

· Metais e óxidos