Disco de aquecimento de wafer

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Visão geral

Aplicável ao teste de wafers de diferentes tamanhos, pode ser usado em vários tipos de bancos de sonda, controle de temperatura para testes elétricos simultaneamente.

Detalhes do produto

Faixa de temperatura -120 ℃ ~ 400 ℃ Estabilidade de temperatura ± 0,05 ℃ Uniformidade de temperatura ± 2% Área de amostra 2 polegadas ~ 12 polegadas Planificação da superfície 25um Potencial da superfície Alimentação elétrica Triaxial Eletrodo traseiro Opcional Instrumento de adaptação Mesa de sonda manual Mesa de sonda semi-automática Cozido a laser Área de aplicação Semicondutores Chip Temperatura óptica OLED Teste de wafer

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