Bem-vindo cliente!

Associação

Ajuda

Pequim Rico Zhongyi Tecnologia Co., Ltd.
Fabricante personalizado

Produtos principais:

instrumentb2b>Produtos

Pequim Rico Zhongyi Tecnologia Co., Ltd.

  • E-mail

  • Telefone

  • Endereço

    Edifício 8, Edifício Internacional Zhujiang Moor, distrito de Changping, Pequim

Contato Agora

Espectrómetro de emissão de raios X XEScope

Modelo
Natureza do fabricante
Produtores
Categoria do produto
Local de origem

Visão geral

Espectrómetro de emissão de raios X XEScope, facilidade de operação: simplifica todo o processo - desde a confirmação das condições de teste até a análise dos dados reais, sem operações profissionais complexas, com uma interface amigável do usuário e necessidades mínimas de treinamento.

Detalhes do produto

Espectrómetro de emissão de raios X XEScopeÉ um dispositivo de caracterização que pode realizar análises quantitativas e qualitativas do estado químico dos elementos, com capacidade de detecção precisa e experiência operacional conveniente, fornecendo suporte técnico confiável para estudos de valor de elementos em vários campos.


Sensibilidade ultra alta: captura precisa de informações de ingredientes de baixo teor (0,1% em peso).

● Alta resolução de energia: ≤0,5 eV, reconhecimento preciso do sinal.

Distinção de estados químicos: distinguir claramente os diferentes estados de valor do mesmo elemento (por exemplo, Si² + / Si4 +, S² - / S • • Analisar as propriedades químicas.

● Teste in situ: estudo do mecanismo de reação dinâmica, distribuição de componentes de redução precisa, características in situ de mudanças de estado químico.

Ampla cobertura de elementos: pode ser analisado de elementos leves (como Al, Si) a elementos pesados (como U, Pb) para atender às necessidades de vários campos.

● Detecção sem danos: não é necessário danificar a estrutura da amostra, é adequado para análise de amostras preciosas / raras.

● Interface amigável do usuário: software integrado, fácil de operar.


Espectrómetro de emissão de raios X XEScopeVisão Geral

Foco na informação de preço da superfície, compatível com diversas amostras

Captura precisa de informações de superfície: a composição e o estado químico dos elementos de superfície da amostra focados no núcleo, sem penetração profunda, obtenção direta de dados críticos da superfície, aplicável a cenários de pesquisa de superfície como revestimentos, filmes finos e outros.

● Amostras multimormais sem limiar: compatível com sólidos (como blocos, placas), líquidos (como soluções, emulsões), pó e outras formas, sem necessidade do cliente para moagem, dissolução e outros pré-tratamento complexos, teste direto a bordo.

Baixa quantidade de baixo conteúdo amigável: a necessidade de amostra é baixa até 5 mg, pequenos cristais, pequenas quantidades de pó e outras formas especiais podem ser adaptadas; Apoia o teste de amostra com pontuação de massa de 0,1%, com uma ampla gama de testes.

X射线发射光谱仪 XEScope


Software integrado para análise quantitativa precisa

Facilidade de operação: simplificação de todo o processo - desde a confirmação das condições de teste até a análise de dados reais, sem operações profissionais complexas, interface amigável ao usuário e necessidades mínimas de treinamento.

● Software integrado: software de análise equipado com funções *, suporte à calibração automática de energia, análise de ajuste e análise quantitativa, suporte à detecção em lote de vários conjuntos de amostras correspondentes ao mesmo elemento, o software pode calcular em lote os resultados da análise e gerar relatórios padronizados, melhorando significativamente a eficiência da detecção.


Análise quantitativa de preços

● Análise do estado do preço: uso de amostras padrão para calibração de energia e desvio quantitativo do estado do preço, pode obter informações sobre o estado do preço da amostra de teste

● Análise proporcional: a proporção do conteúdo de cada estado de valor na amostra de teste pode ser calculada através da adaptação linear da amostra de teste e da amostra padrão


Testes totalmente automatizados com ampla cobertura de elementos

Conmutação automática de cristal: equipado com função de comutação automática de cristal, pode ser equipado com 6 blocos de cristal de análise, capaz de cobrir a faixa de energia de 1,2 K eV-5 K eV.

Ampla cobertura de elementos: é capaz de realizar uma análise de estado de valor para uma ampla gama de elementos com números atômicos 13 (Al) -23 (V) e 31 (Ga) -90 (U), o seu escopo de detecção inclui principalmente:

A linha espectral K de 13(Al)-23(V), a linha espectral L de 31(Ga)-59(Pr) e a linha espectral M de 61(Pm)-90(U) atendem às necessidades de detecção diversificadas de elementos leves a elementos pesados.

X射线发射光谱仪 XEScope



Características comparativas


XES

(Espectro de emissão de raios X)

XAS

(espectro de absorção de raios X)

XPS

(Espectroscopia fotoeletrônica de raios X)

Princípios

Orbita da camada da casca para a camada interna Orbita eletrônica

Orbita interna para órbita vazia, energia de vácuo

Efeito fotoelétrico estimula a eletricidade interna do átomo da amostra

Escolha o espectro de emissão da transição

Espectro de absorção de saltos eletrônicos

Subsidiar ou preço eletrônico

Detecção de sinais

Estrutura fina de fluorescência de raios X

Absorção por ressonância de raios-X entrantes

Energia dinâmica fotoeletrônica

Funções

Ambiente de teste

Análise de preços, proporções de espécies e informações de estrutura orbital, informações próximas da superfície (<1 μm)

Resolução de pressão normal, local e horário

Informações sobre a estrutura do estado químico e da posição, informações sobre a fase corporal

Pressão normal, no local

Preço e conteúdo de elementos, informações de superfície (<100 nm)

Ultra-alto vácuo, pressão quase normal

Alcance do teste

Al ~ U

Metais de transição - elementos pesados

Li ~ U


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope


X射线发射光谱仪 XEScope