Série ZEISS Sigma

Série ZEISS SigmaCombina a tecnologia de microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo (FE-SEM) com uma boa experiência do usuário. Aumente a produtividade com o fluxo de trabalho intuitivo da Sigma para implementar facilmente procedimentos de imagem e análise. Você pode obter mais dados em menos tempo. Excelência em imagens de alta resolução - com baixa tensão, melhor resolução e contraste a 1kV ou menos. Combinado com a opção de diferentes detectores, o Sigma é amplamente aplicável às suas aplicações: sejam novos materiais em desenvolvimento, partículas para inspeção de qualidade ou amostras biológicas ou geológicas, o eletroscópio pode ajudá-lo a estudar uma variedade de amostras. A imagem de pressão variável (VP) em condições extremas permite obter excelentes resultados de imagem e análise em não condutores, mesmo em baixa tensão, com o NanoVPlite.

Série ZEISS SigmaOferece-lhe uma experiência de nanoanálise confiável de alta *. O Sigma360 é um microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo (FE-SEM) intuitivo com uma plataforma de teste analítico para imagens e análises. O excelente design geométrico do EDS oferece análises de alto fluxo que permitem experiências in situ automáticas.

Independentemente da amostra, você sempre obtém resultados precisos e reprodutíveis. Obtenha informações de imagem mais ricas de amostras sensíveis em baixa tensão.

As aplicações de microscópio eletrônico de varredura de hoje exigem imagens de alta resolução com baixa energia de pouso (chamada baixa tensão ou baixa tensão acelerada) como padrão, uma vez que isso é essencial para o estudo de amostras sensíveis ou não condutoras a feixes de elétrons. Isso permite obter informações reais sobre a superfície da amostra sem interferir com sinais de fundo mais profundos da amostra. Os sistemas de pistola eletrônica e detecção da Gemini foram otimizados para obter imagens de alta resolução e contraste aprimorado em condições de baixa e ultra-baixa tensão. No eletroscópio de varredura, devido à menor energia transmitida para a amostra, feixes de eletrões entrantes de baixa tensão acelerada são usados ​​para a imagem de amostras sensíveis ao feixe de eletrões. Ao mesmo tempo, os feixes de eletrões de baixa energia têm má penetração na amostra. Desta forma, você pode capturar detalhes de superfície em amostras sensíveis em alta resolução.

Otimizar imagens de baixa aceleração

A distorção eletrônica-óptica resulta em perda de resolução, que ocorre mais frequentemente em imagens de baixa tensão. De acordo com o projeto, a tecnologia de propulsor de feixe de eletrônicos do espelho Gemini 1 já é capaz de fornecer uma excelente resolução de imagem de baixa tensão de aceleração. A abertura otimizada e o modo de pistola eletrônica de alta resolução agora permitem otimizar ainda mais os efeitos de imagem em baixas tensões de aceleração.

Modo de arma eletrônica de alta resolução

No modo de arma eletrônica de alta resolução, a diferença de cor do feixe de eletrônicos é reduzida, permitindo uma mancha de feixe menor. Em tensões de 1 kV e abaixo, este modo oferece uma resolução de imagem adicional. O foco é definido por padrão para excelentes condições de imagem (com reunião otimizada de feixes de elétrons). Você pode optar por oferecer uma abertura otimizada para uma variedade de correntes, garantindo uma alta resolução. Um modo de foco adicional pode ser usado para otimizar a profundidade de campo da imagem.

Detectores

Normalmente, o uso de baixa tensão de feixe de eletrões de entrada e fluxo de feixe de sonda de feixe de eletrões baixo permite a imagem de alta resolução de materiais sensíveis. Quando se trata de detectar eletrões excitados a partir de amostras, o detector Inlens SE eficiente não só oferece alta resolução, mas também aumenta o contraste quando o fluxo da sonda é menor de 10 pA. Com o suporte de scanners inteligentes, como a média de quadros de correção de deriva, o processamento estável das amostras é garantido mesmo em alta resolução.

Eletroscópio de varredura de emissão de campo alto*

ZEISS GeminiSEM Excelente flexibilidade de amostras Utilize o eletroscópio de varredura de lançamento de campo para explorar o desconhecido e atender às altas exigências de imagem sub-nanométrica, análise e flexibilidade de amostras. O sistema permite análises de alto fluxo, oferecendo uma excelente resolução em condições de baixa tensão, alta velocidade e alta corrente da sonda. Alta qualidade de imagem e versatilidade Modos de imagem avançados Detecção eficiente e excelente análise Uma ampla gama de detectores tecnológicos ZEISS Gemini com mais de 25 anos de experiência.

O sistema permite análises de alto fluxo, oferecendo uma excelente resolução em condições de baixa tensão, alta velocidade e alta corrente da sonda. Seu campo de visão é aberto e suas câmaras são extremamente espaçosas para detectar facilmente até mesmo amostras grandes.

O ZEISS GeminiSEM, com duas portas EDS opostas e configurações EDS/EBSD comuns, oferece uma caracterização eficiente da composição química e orientação ao cristal. Você pode confiar em mapeamento sem sombras de alta velocidade.

Personalize e automatize seu fluxo de trabalho: se você precisar testar os limites técnicos dos materiais, a ZEISS oferece um laboratório de aquecimento in situ e tensão mecânica automatizado.

Visão das áreas de aplicação

Análise de falhas em componentes mecânicos, ópticos e eletrônicos

Análise de ruptura e análise de metafase

Caracterização de superfícies, microestruturas e dispositivos

Composição e distribuição de fases

Determinação de impurezas e misturas