Espectrómetro de massa ICP completoGeralmente referido ao espectro de massa de plasma acoplado por indução no tempo de voo, é uma técnica de análise de elementos de alto fluxo baseada em um analisador de massa no tempo de voo.
Princípio de funcionamento:
Ionização da amostra: a amostra entra no plasma de alta temperatura através do atomizador, evaporando rapidamente, atomizando e ionizando em ambientes de alta temperatura, gerando uma grande quantidade de íons.
Extração e separação de íons: os íons ionizados são extraídos para o sistema de vácuo através do cone de interface para entrar no analisador de massa do tempo de voo.
3, separação de massa e detecção: íons após o campo elétrico acelerado com a mesma energia dinâmica para o tubo de deriva sem campo, o tempo de voo de íons de pequena massa é curto e o tempo de voo de grande massa é longo. A separação de massa é alcançada através da detecção de diferenças de tempo de voo e um único pulso captura um sinal iônico de toda a gama de massa.
Processamento de dados: o conversor digital de alta velocidade registra todos os tempos de chegada de íons e, em combinação com a curva de calibração, converte o tempo em relação de carga de massa (m / z) para gerar um espectrograma de massa completo.
Espectrómetro de massa ICP completoAs vantagens:
Captura sincronizada de espectro completo: um único pulso captura toda a gama de sinais iónicos de massa, evitando atrasos no tempo de varredura de quatro pólos e melhorando significativamente a eficiência da análise.
Alta sensibilidade: Capaz de detectar elementos em concentrações mais baixas, detectando níveis limitados de Danac por ml ou menos.
Ampla faixa dinâmica: a faixa linear pode atingir vários níveis de quantidade e é adequada para medir simultaneamente vários elementos, incluindo elementos de alta e baixa concentração.
Baixa interferência e baixo fundo: reduz efetivamente o impacto da interferência e do sinal de fundo através do cuidadoso projeto e otimização da estrutura do instrumento, bem como a adoção de boas técnicas de correção de interferência.
Análise simultânea de vários elementos: vários elementos podem ser analisados simultaneamente e a largura da superfície dos elementos pode ser medida.