O espectrómetro de fluorescência de raios-X totalmente refletido (TXRF) é um instrumento científico para análise de microelementos multielementares que permite a detecção rápida e de alta sensibilidade de elementos primários e de microelementos (incluindo ultra-microelementos) em amostras de líquidos, suspensões, sólidos e poluentes através da tecnologia de fluorescência de raios-X totalmente refletida.
O TXRF irradia a superfície da amostra com raios-X de entrada em ângulos muito pequenos (geralmente abaixo de 0,1°), permitindo que os raios-X sejam totalmente refletidos. Neste momento, os raios-X entrantes não são mais espalhados pela amostra, mas apenas estimulam a substância micrométrica na superfície da amostra para produzir um espectro de raios-X característico. Este processo reduz significativamente a interferência dos fótons dispersos no sinal do detector, reduzindo significativamente o ruído de fundo (cerca de quatro graus de massa menos do que o XRF convencional), permitindo assim a detecção de elementos de traço na escala de nanogramas (ng).
Quando os raios X são emitidos na superfície do veículo da amostra, como uma placa de quartzo, com um ângulo menor do que o crítico (geralmente 0,1°-0,5°), ocorre um reflexo total para evitar a absorção e dispersão dos raios X pelo veículo; Átomos elementares na amostra (uniformemente espalhados sobre a superfície do veículo, espessura ≤ 100 nm) são excitados para emitir fluorescência de raios X característica (XRF); Capture a energia e a intensidade dos raios X característicos através de um detector, identifique o tipo de elemento de acordo com a energia e quantifique o conteúdo de elementos de acordo com a intensidade.
Características:
Alta sensibilidade e baixos limites de detecção: adequado para análise de partículas ultrafinas e elementos em traço.
Pouca quantidade de amostras: a análise precisa ser realizada com apenas uma microatualização ou uma amostra de micrograma, especialmente para casos de quantidade limitada de amostras.
Efeito sem matriz: a configuração geométrica de reflexão total reduz a interferência do fundo da amostra com os resultados da medição e facilita a análise quantitativa.
Detecção rápida e sem danos: o tempo de uma única detecção pode ser reduzido a menos de 5 minutos sem a necessidade de danificar a amostra.
Capacidade de análise multi-elemento: pode detectar vários elementos simultaneamente, como cromo, chumbo e outros oito principais elementos de metais pesados, ou expandir para quase 30 elementos de acordo com as necessidades.
Facilidade de operação e segurança: a interface de toque é intuitiva e o risco de exposição à radiação é baixo, garantindo a segurança do operador.