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Quarto 311, Edifício 5, No. 526, Rua Fute Dong 3, Zona Tributária, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Duzhi Instrument (Shanghai) Co., Ltd
Quarto 311, Edifício 5, No. 526, Rua Fute Dong 3, Zona Tributária, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Hommel rugosidade Hommel W10 | HOMMEL
O medidor Hommel-Etamic W10 é ideal para medições móveis de rugosidade, permitindo monitorar a qualidade da superfície da peça durante o próprio processo de produção. Este sistema de medição prático possui uma ampla gama de funções. Oferece medições confiáveis e precisas durante a detecção horizontal, bem como em posições aéreas e verticais. Os padrões de rugosidade integrados suportam medidores de teste rápidos, garantindo uma precisão muito alta sempre.
A W10 tem uma impressora térmica integrada, o que significa que os resultados das medições podem ser gravados imediatamente. Avaliações de tolerância, contornos, curvas Abbott e estatísticas podem ser impressas imediatamente. O medidor oferece sete programas diferentes, bem como opções para testar o medidor. Todas as funções podem ser operadas através de uma tela táctil colorida moderna e fácil de usar. Não há necessidade de treinamento prolongado, o que economiza seu tempo e dinheiro.
Além disso, é possível expandir o sistema de medição com o software de avaliação móvel EVOVIS. Este software baseado em PC foi desenvolvido especificamente para medidores móveis, ampliando significativamente a capacidade de medição de rugosidade. Ele funciona em modos online e offline, permitindo que você escolha as condições de medição. Você também pode salvar automaticamente o formulário de impressão.
Alta precisão: medição precisa de todos os parâmetros comuns de rugosidade
Conformidade: cumprir os requisitos das normas internacionais
Versatilidade: suporte para detecção horizontal e medição de posição aérea e vertical
Prático: medição sem fio; Suporte de carregamento integrado para unidade de digitalização LV17
Fácil de usar: tela táctil intuitiva e moderna
Claro: visão dos resultados com avaliação de tolerância e contorno de superfície