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2-728B, Hongqiao Center, Praça da Nova Cidade, 281 Zhongshan North Road, Nanjing
Nanjing Tense Tecnologia Co., Ltd.
2-728B, Hongqiao Center, Praça da Nova Cidade, 281 Zhongshan North Road, Nanjing
300N & 2kNVertical3Pontos e4Pontos de curvatura paraSEM
MICROTESTTres pontos de curvatura e alongamento/Os módulos de compressão foram projetados especificamente para observar as áreas de alta tensão de amostras sob um eletroscópio de varredura ou um microscópio óptico.WindowsSoftware para definir os parâmetros do driver e emPCA curva de tensão é exibida na tela em tempo real.75NPara2kNdoSensor de força de cargaabrange a maioria das aplicações,Taxa de deslocamento de0.05mm/minPara5mm/min- É.Versão especial pode ser de acordo com o pedido do clientePersonalização.Todos os módulos são controlados pelo nosso software de teste de alongamento de microteste- É.
com todosDebenComo o módulo de teste, o controle é usado por um computadorMICROTESTSoftware de teste.
Na curvatura tradicional de três pontos, a amostra é apoiada em dois pontos externos e deformada movendo o terceiro ponto central para baixo. Para aplicações de eletroscópio de varredura, já temos a tecnologia inversa.
A amostra está localizada no ponto central de fixação, com dois pontos externos conduzidos para baixo. Isso tem dois benefícios: a área de interesse de alta tensão está localizada no topo, é fácil de ver e permanece focada porque a altura é constante.
A carga máxima do dispositivo padrão é300NA taxa de deslocamento de0.05mm/minPara5mm/minA versão de alta carga também está disponível2KNA seguinte carga. A largura padrão da amostra é40Milímetros. As pinças superiores e inferiores (pontos) podem facilmente alterar diferentes configurações de amostras, como permitir estudos de encolhimento ou curvatura de quatro pontos.
Este módulo foi projetado apenas para dobraduras de três pontos verticais e, para dobraduras de três pontos horizontais, recomendamos o uso de uma mesa de estiramento com fixações de dobradura de três ou quatro pontos opcionais.
Aplicações recomendadas:
Microscópio eletrônico de varredura (SEMMicroscópio óptico e microscópio de força atômica
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