Máscara de espessura de superfície dobrada (portátil)

NegociávelAtualização em02/09

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Visão geral

O espessurômetro de máscara curva NS-Touch (portátil) é um excelente sistema portátil de medição de película fina com uma vantagem de preço significativa. Capacidade de analisar rapidamente dados espectrais de reflexão de películas em segundos e analisar espessuras de películas de camadas simples e múltiplas. As sondas portáteis específicas facilitam a medição de superfícies curvas, como óculos e luzes.

Detalhes do produto

O espessurômetro de máscara curva NS-Touch (portátil) é um excelente sistema de medição de película portátil com vantagens significativas de preçoPode ser usado para teste de espessura de membrana de endurecimento de lentes. Capacidade de analisar rapidamente os dados do espectro reflexo da película em segundos e analisar a espessura da película de camada única e de camadas múltiplas. As sondas portáteis específicas facilitam a medição de superfícies curvas, como óculos e luzes.

ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪

Um,Espessura de superfície ACUITIK NS-TouchPrincipais funções do instrumento

Medição da espessura do revestimento anti-reflexo (AR Coating)

- Fácil de operar: medir a película de redução do reflexo em óculos de arco e em outras lentes ópticas.

Medição da espessura do revestimento duro (Hard Coating)

- É possível medir simultaneamente a espessura do revestimento duro e do substrato.

Medição da espessura da camada hidrofóbica (Hydrophobic Layer)

A camada hidrofóbica é muito fina, com apenas cerca de cem átomos de espessura, por isso é necessário usar comprimentos de onda ultravioleta curtos para medir.

Características do NS-Touch Máscara de espessura de superfície curva (portátil)

Calibração fácil: o algoritmo AutoCal liberta os usuários do trabalho de calibração diária.

Aumentar a precisão: minimizar a interferência do retroreflexo para garantir que os resultados de medição sejam mais precisos e confiáveis.

Fácil de operar: graças ao algoritmo de detecção automática de amostras, o processo de medição é intuitivo e fácil de usar.

Especificações da série NS-Touch

modelo	O NS-TouchUV	NS-Toque	NS-Touch NIR
Intervalo de comprimento de onda	190 nm – 1100 nm	380 nm - 1050 nm	950 nm – 1700 nm
Medição da espessura1	0,02 μm – 40 μm	0,05 μm - 80 μm	0,1 μm – 250 μm
Precisão2	0,01 μm ou 0,2%	0,01 μm ou 0,2%	0,02 μm ou 0,4%
precisão3	0,001 μm	0,001 μm	0,002 milímetros
estabilidade4	0,001 μm	0,001 μm	0,002 milímetros
Tamanho da mancha	100 milímetros	100 milímetros	100 milímetros
Velocidade de medição	< 1s(Medição única)	< 1s(Medição única)	< 1s(Medição única)
Fonte de Luz	Lâmpadas de tungstênio+Luz de deutério	Lâmpadas de tungstênio	Lâmpadas de tungstênio
Tamanho da amostra	Diâmetro de1 milímetropara300 milímetrosOu maior.	Diâmetro de1 milímetropara300 milímetrosOu maior.	Diâmetro de1 milímetropara300 milímetrosOu maior.

Depende do material específico

Si/SiO2 (500-1000nm)

Calcule o desvio padrão de 500 nm SiO2 em 100 medições e tome a média do desvio padrão de 20 dias de medição válidos.

Calcule a média de 100 medições de 500nm SiO2 com desvio padrão duplo da média de 20 dias de medição eficazes

Exemplo de medição NS-Touch, medição da espessura da membrana com revestimento AR na lente

O exemplo de precisão repetida do NS-Touch mostra que a estabilidade da medição da espessura da película de revestimento duro na lente tem um desvio padrão de 1 sigma inferior a 0,001 micrão.
NS-Touch重复精度示例

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