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Brooke (Pequim) Tecnologia Co., Ltd.
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Sistema de teste de nanomecânica de alta precisão TI 990 da Brooke

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Sistema de teste de nanomecânica de alta precisão TI 990 da Brook, Hysitron TI 990 TriboIndenter da próxima geração da Brook Exemplos de desempenho, flexibilidade e disponibilidade para caracterizações nanomecânicas e nanofriccionais. O TI 990 é uma melhoria abrangente da plataforma TriboIndenter da Brooke, com tecnologia atualizada projetada para eliminar as limitações comuns dos sistemas de nano-indentadores em todos os aspectos de seus processos de medição e análise.

Detalhes do produto

Sistema de teste de nanomecânica de alta precisão TI 990 da BrookeA nova geração do Hysitron TI 990 TriboIndenter ® Exemplos de desempenho, flexibilidade e disponibilidade para caracterizações nanomecânicas e nanofriccionais. O TI 990 é uma melhoria abrangente da plataforma TriboIndenter da Brooke, com tecnologia atualizada projetada para eliminar as limitações comuns dos sistemas de nano-indentadores em todos os aspectos de seus processos de medição e análise.



A Brooke é uma empresa internacional de instrumentação analítica de influência, com a divisão de instrumentação de nanosuperfície da Brooke como sua unidade de negócio subordinada, focada no desenvolvimento de novos métodos e ferramentas de medição de superfícies, que oferecem uma variedade de aplicações para testes de caracterização de superfícies em diferentes dimensões. Nossos principais produtos incluem microscópio de força atômica, contorímetro de sonda, nano-moldador, contorímetro óptico tridimensional, máquina de teste de desgaste de atrito, 、 Barras mecânicas in situ SEM/TEM, etc. Estes equipamentos podem ser usados ​​em materiais, química, ciências da vida, física, LED、 Os requisitos de testes analíticos precisos e eficientes para pesquisa científica, desenvolvimento de produtos, controle de qualidade e análise de falhas em áreas como energia solar, telas táctiis, semicondutores, comunicações e armazenamento de dados ajudam nossos clientes a resolver os problemas enfrentados em suas respectivas aplicações de teste de medição de superfície, melhorar os níveis técnicos e de processo e aumentar a eficiência de pesquisa e desenvolvimento.