O ContourX-500 Brooke lida com desafios de superfícies complexas e a superfície da amostra na realidade muitas vezes não é o plano ideal. O sistema de interferência de luz branca ContourX-500 da Brooke oferece uma solução possível para medir superfícies com características complexas como alta reflexão, transparência, camadas múltiplas ou grande inclinação, graças à sua flexibilidade técnica e aos diversos padrões de análise.
O ContourX-500Brooke enfrenta desafios de superfície complexos
Na realidade, a superfície da amostra muitas vezes não é o plano ideal. O sistema de interferência de luz branca ContourX-500 da Brooke oferece uma solução possível para medir superfícies com características complexas como alta reflexão, transparência, camadas múltiplas ou grande inclinação, graças à sua flexibilidade técnica e aos diversos padrões de análise.As amostras de medição ideais podem ter superfícies uniformes, moderadamente reflexivas e planas, mas os desafios na prática são muito maiores. Os halos causados por metais altamente reflexivos, os múltiplos reflexos produzidos por filmes transparentes, a forte dispersão de superfícies ásperas, a perda de sinal em paredes laterais íngremes ... esses problemas frequentemente preocupam as medições ópticas. O ContourX-500 Brooke foi projetado levando em consideração essas complexidades e integrando várias estratégias técnicas para enfrentar os desafios.Para superfícies altamente refletidas, como metais polidos ou espelhos, a luz refletida intensa pode ir além da faixa dinâmica da câmera, resultando em saturação da imagem (sobreexposição) ou a produção de halosombra. O ContourX-500 Brooke geralmente oferece uma dupla regulação de hardware e software: o hardware pode diminuir a intensidade da luz entrante ajustando a intensidade da fonte de luz ou usando um polarizador; O software usa a tecnologia de imagem de alta faixa dinâmica (HDR) para obter um sinal de interferência eficaz através da combinação de imagens com diferentes tempos de exposição para restaurar a verdadeira escala de cinza da superfície.A medição de estruturas transparentes ou multicamadas (como tampas de vidro, camadas de membrana OLED) é outra dificuldade comum, porque a luz refletida da superfície superior e inferior da amostra ou da interface da camada média interfere uma com a outra, gerando sinais de interferência confusos. Para isso, o ContourX-500 Brooke pode ser equipado com um "modo de medição de materiais transparentes" específico ou um algoritmo de análise avançado. Estes algoritmos são capazes de reconhecer e separar sinais de diferentes interfaces para extrair a forma da superfície alvo individualmente ou medir a espessura da película fina, se as superfícies superiores e inferiores podem ser distinguidas.Quando confrontados com características com grandes inclinações ou altas proporções de profundidade e largura (como ranhuras profundas, bordas afiadas), a luz entrante pode não ser refletida de volta ao detector, resultando em perda de dados. Nesse caso, além da escolha de objetivos com maior abertura numérica para coletar luz refletida em ângulos maiores, o sistema ContourX-500 Brooke também pode suportar medições de múltiplos ângulos. Ao inclinar a amostra ou usar objetos especiais com prismas embutidos, iluminar e observar de diferentes direções e, em seguida, fundir dados de vários ângulos de visão através do software para reconstruir uma forma tridimensional completa.Para superfícies rugosas que em si são fortes dispersores, embora a interferência de luz branca ainda funcione, sua resolução horizontal pode diminuir devido à dispersão. Neste momento, o modo de microfonia confocal no dispositivo pode ter vantagem. O modo confocal pode efetivamente suprimir a dispersão de luz, melhorar o contraste da imagem e a relação de sinal e ruído através do efeito de filtragem espacial do buraco de agulha, e é mais adequado para observar e analisar texturas complexas como superfícies de areia, secções de cerâmica e tecidos de papel.O desafio de enfrentar superfícies complexas depende não apenas da funcionalidade do dispositivo, mas também da experiência e habilidade do operador. Compreender as propriedades ópticas dos diferentes materiais, prever os problemas que podem ocorrer e escolher os padrões, objetivos e parâmetros de medição adequados são fundamentais para uma medição bem sucedida. O ContourX-500 da Brooke geralmente fornece orientações detalhadas de aplicação e suporte técnico para ajudar os usuários a criar uma biblioteca de soluções para amostras específicas difíceis de detectar.Assim, o ContourX-500 Brooke não funciona apenas em condições ideais. É mais como uma caixa de ferramentas equipada com uma variedade de ferramentas para diferentes tipos de superfícies complexas, onde o operador pode escolher a "ferramenta" certa (padrões de medição e algoritmos) para realizar a tarefa. Essa flexibilidade lhe permite adaptar-se a uma ampla gama de aplicações industriais e científicas, tornando-se uma opção confiável para problemas de medição de superfícies difíceis.
O ContourX-500Brooke enfrenta desafios de superfície complexos
