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E-mail
wulihua@cinv.cn
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Telefone
18019703828
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Endereço
Quarto 301, Block A, 2250 Pudong South Road, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Categorias do produto
- Câmera de alta velocidade
- Microscópio digital
- Soluções de teste para a indústria de semicondutores
- Plataforma de Internet de Dados Inteligentes
- Plataforma de análise inteligente de imagens
- Equipamento de medição 3D
- Sistema de automação microscópica
- Sistema de análise de elementos de partículas
- Software de análise de imagem
- Microscópio infravermelho de bloqueio
Xangai Xinnu Optical Technology Co., Ltd.
Sistema de análise elementar de partículas CIS-LIBS
NegociávelAtualização em12/20
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
O sistema de análise elementar de partículas CIS-LIBS requer equipamentos múltiplos: a composição não pode ser identificada apenas com observações de amplificação e é necessário usar vários equipamentos ou encomendar análises externas.
Detalhes do produto
Sistema de análise elementar de partículas CIS-LIBSAnálise rápida, precisa e com um clique
São necessários vários equipamentos:
Apenas a observação ampliada não identifica os ingredientes.
É necessário usar vários dispositivos ou confiar análises externas
É necessário pré-tratamento:
Existem restrições ao acesso ao tamanho dentro do dispositivo de análise e a necessidade de destruir ou cortar o alvo
Tratamento condutivo da superfície do alvo é necessário, tratamento a vácuo dentro do dispositivo de análise
Os requisitos de alfabetização dos experimentadores são elevados:
Devido à alta profissionalidade dos equipamentos de análise, apenas poucas pessoas operam
Somente com conhecimento especializado é possível julgar a substância com base nos elementos detectados
Só precisa de um.
Uma única máquina pode executar rapidamente desde a observação de ampliação até a distinção elementar. A pessoa que quer fazer a distinção elementar pode fazer o trabalho no local.
Sem pré-tratamento necessário
Nenhum limite ao tamanho do alvo e análise direta sem danos
Análise no ar sem condutividade ou vácuo
Fácil distinção de elementos
Distinção de elementos com um clique ao mesmo tempo que a observação é feita com o microsistema Especulação instantânea de substâncias detectadas de acordo com bancos de dados internos
Sistema de análise elementar de partículas CIS-LIBSEspecificações
modelo |
CIS- LIBS |
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Módulo óptico LIBS |
Princípio de teste |
Espectrometria de ruptura induzida por laser |
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Detecção de propriedades |
Qualitativo e semi-quantitativo |
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Capacidade de teste |
Nível em % (dependendo do elemento) |
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Detecção de requisitos ambientais |
Nenhuma, análise realizada em condições atmosféricas (nenhuma, realizada em condições de pressão normal) |
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Elementos correspondentes |
CU e A |
SUS, Fe e L |
C, Cr, Mg e Mn |
O T |
Elementos comuns como Y, zn e Au |
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laser |
Tipo de laser |
Nd: YAG (bomba de semicondutores) |
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Comprimento de onda do laser |
355 nm |
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Energia de pulso único |
<100UJ |
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Largura do pulso |
≤1 . 5ns |
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Especificações do ponto |
15um (tipo) |
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Profundidade de queima |
1 - 10um (dependendo do material) |
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Espectrómetro |
Gama espectral |
200 a 780 nm |
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Resolução espectral |
0 . 15 nm |
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Relação sinal-ruído |
500 |
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Detectores |
Detector CMOS |
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Lente a laser |
Tipo de lente |
Lente transmissível de especificação exclusiva |
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Múltiplo da lente |
7X |
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Distância de trabalho |
18 milímetros |
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Scanner de módulos ópticos |
Eixo de entrada |
Método de observação das diferenças |
Iluminação Olympus BX53M, BF |
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Objetivos |
5X, 10X, 20X, 50X |
Opcional |
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iluminação |
LED digital de alta potência, controlado por software, com modo de memória |
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Sistema de polarização |
Polarização 00 e Polarização 90o Alternação digital automática, com modo de memória |
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Imagem digital |
Modelo da câmera |
O DFK33UX249 |
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Resolução da câmera |
1920x1200 (2. 3mp) |
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Câmera alvo |
Dois polegadas. |
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Velocidade de quadro |
48FPS |
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Scan Carrier |
Direção do veículo |
XYZ Três Eixos |
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Alcance da viagem |
Eixo Xy 125x75mm, eixo z 35mm |
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Resolução |
0 . 1um (controle de software) |
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precisão |
< 5 μm |
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Modo de controle |
Software de controle automático + controle de segmentação de pólo remoto |
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Gerar relatório |
Método de geração |
Geração automática |
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Conteúdo do relatório |
Relatório profissional sobre materiais de partículas únicas |
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Relatório profissional de materiais em partículas completas | ||||||||||||
computador |
Processador 15, memória 16G, disco rígido 1TB, monitor 22 polegadas |
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Alimentação do equipamento |
Método de fornecimento de energia |
AC 220V50Hz |
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Período de garantia |
Máquina toda 12 meses |
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Resistência ambiental |
Temperatura ambiente |
+10 até 45 |
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Utilização da umidade ambiental |
Até 85% RH (sem condensação) |
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peso |
Sistema |
Cerca de 50KG |
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Dimensões |
Largura 490mm x altura 600mm x profundidade 840mm |
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