Soluções de teste para a indústria de semicondutores

Soluções de teste para a indústria de semicondutores

Equipamento AOI Framed Wafer totalmente automático

O ProEye 01

O fornecimento de soluções de inspeção e medição especializadas para processos relacionados ao corte é uma tarefa essencial para garantir a confiabilidade do produto final. A detecção de alta velocidade de defeitos como cortes, quebras, arranhões, partículas de impureza e ausência de Diet requer uma combinação de instrumentos técnicos e estratégias para garantir a qualidade do produto e a eficiência da produção.

Equipamento AOI infravermelho totalmente automático

O ProEye 02

Equipamento com sistema óptico infravermelho autônomoFuncionalidade e design para atender às necessidades precisas de luz infravermelha e visível em diversas aplicações de detecção. Este sistema integra não apenas componentes ópticos profissionais e ricos, mas tambémQualidade de imagem para garantir a precisão e confiabilidade dos resultados de teste.

Equipamento AOI de wafer totalmente automático

O ProEye 03

Este equipamento foi desenvolvido independentemente e possuiSistemas de detecção de wafers autônomos de propriedade intelectual projetados para cenários que exigem automação, eficiência e alta precisão nos processos de produção de wafers e chips. Analisamos as características de todos os tipos de amostras e otimizamos a precisão da detecção de defeitos, a estabilidade da detecção e a facilidade de uso para atender às diversas necessidades de detecção. O equipamento fornece dois modos de operação automáticos e manuais, tanto como um equipamento de produção eficiente e estável, como uma ferramenta de pesquisa e desenvolvimento flexível e conveniente para fornecer aos usuáriosSoluções de detecção.

Equipamento de coleta óptica de wafer semi-automático

Espectador em

A SpectView SA é uma solução de microautomação independentemente desenvolvida pela Xi Jing Technology que integra uma plataforma de movimento de alta precisão, módulos de foco ativo a laser, microcontrole óptico e algoritmos avançados de processamento de imagem, especificamente para a captura automática de imagens de wafers durante o processo de fabricação de semicondutores, para a detecção e análise abrangentes e precisas.

Soluções de teste para a indústria de semicondutoresEspecificações técnicas