Caixa de teste de mudança rápida de temperatura de choque quente e frio SER

Caixa de teste de mudança rápida de temperatura de choque quente e frio SERPara diferentes componentes eletrônicos, as condições de temperatura enfrentadas no ambiente de uso real, a mudança da diferença de temperatura ambiental e a mudança de temperatura de refrigeração acelerada podem fornecer um ambiente de teste mais rigoroso, reduzir o tempo de teste e reduzir os custos de teste, mas é necessário prestar atenção ao potencial impacto adicional no teste de materiais, gerando testes de danos no estado não utilizado. As condições de teste RAMP são marcadas como: Temperature Cycling ou Temperature Cycling Test, ou seja, ciclo de temperatura (impacto de temperatura controlável na inclinação).

produtoCaracterísticas:

Executável AMP (variação de temperatura média, etc.), choque de três caixas (TC), choque de duas caixas (TS), armazenamento a alta temperatura, função de armazenamento a baixa temperatura;

2, a taxa de temperatura média SETS pode definir a faixa de 5 ℃ ~ 30 ℃ / min (40 ℃ / min);

3, atender aos requisitos de teste do processo sem chumbo, solda sem chumbo, barba de estanho (barba de cristal), DELL D4559, MOTO, IEC-60068-2-14NB, JESC22-A14C, IPC-9701...

A Seth utiliza a nova tecnologia de controle a frio PWM da empresa Sporlan dos EUA para operações de poupança de energia em baixas temperaturas;

5, o ciclo de desgelamento de três dias para desgelar uma vez, cada vez apenas 1 hora para completar;

Configuração de comunicação RS232 e função de download de curva de armazenamento USB;

7, sensor colocação área de teste fora (de volta) ventilação seth design de acordo com a validade experimental;

Monitoramento de alarme em vários lugares, configuração de função de alarme remoto sem fio;

Caixa de teste de mudança rápida de temperatura de choque quente e frio SEREspecificações técnicas: