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Hitachi Analytical Instruments (Shanghai) Co., Ltd.
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Medidor de espessura de revestimento XRF de mesa

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O projeto do medidor de espessura de revestimento XRF FT230 reduz significativamente o tempo de medição. Os engenheiros da Hitachi perceberam que a configuração de amostras e a escolha de fórmulas de medição tendem a levar muito tempo, por isso lançaram um analisador inovador que pode efetivamente "configurar" a si mesmo, permitindo que mais peças possam ser analisadas durante o processo. Módulos de reconhecimento inteligentes, como Find My Part (Encontre minha amostra), o que significa que o operador basta carregar a amostra, confirmar a peça e o FT230 lidará com o resto.
Detalhes do produto

Resumo:

do FT230Medidor de espessura de revestimento XRF de mesaO design reduziu significativamente o tempo de medição. Os engenheiros da Hitachi perceberam que a configuração de amostras e a escolha de fórmulas de medição tendem a levar muito tempo, por isso lançaram um analisador inovador que pode efetivamente "configurar" a si mesmo, permitindo que mais peças possam ser analisadas durante o processo.


Automação e software inovadordo FT230Medidor de espessura de revestimento XRF de mesaCaracterísticas. Módulos de reconhecimento inteligentes, como Find My Part ™ (Encontre minha amostra), o que significa que o operador basta carregar a amostra, confirmar a peça e o FT230 lidará com o resto. Ele encontrará a posição certa de medição no seu componente - mesmo em substratos grandes - selecionará o processo de análise certo e enviará os resultados ao seu sistema de qualidade. Reduz o tempo e os erros humanos, permitindo que você complete mais análises em menos tempo, tornando inspeções de alta eficiência mais realistas em ambientes de produção movimentados.


Destaques do produto

Cada parte do FT230 foi projetada para reduzir significativamente o tempo de análise.

·O foco automático reduz o tempo de carregamento da amostra

· Find My Part ™ Identificação inteligente automática para configurar um programa completo de medição

·A maior parte da tela é usada para exibir visualizações de amostra, proporcionando visibilidade excelente

·Procedimentos de autodiagnóstico garantem a condição e a estabilidade do instrumento

·A integração perfeita com outros softwares permite exportar dados facilmente

·Graças à nova interface de usuário, os não profissionais também podem ser intuitivos e fáceis de usar.

·Potente para medição simultânea de quatro camadas de revestimento e análise de substratos

·Durável e longa vida útil em ambientes de produção ou laboratório testados

·Conforme às normas ASTM B568 e DIN ISO 3497

·Ajude-o a atender às especificações ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), estanho imerso (IPC-4554) e prata imersa (IPC-4553A)




FT230 Analisador XRF de mesa

Escala de elementos

Alumínio (13) - Urânio (92)

Detectores Detector de deriva de silício (SDD)
Projeto da amostra Ranura e fechamento
Projeto da amostra XY

Elétrico ou fixo

Viagem da amostra XY 250 x 200 milímetros
Corrida elétrica do eixo Z 205 milímetros
Tamanho máximo da amostra 500 x 400 x 150 milímetros
Número de alinhadores

4

Foco laser

Incluído na configuração padrão

Foco automático Opcional

Câmera de ângulo amplo

Opcional

Medição independente da distância

Opcional

Find My Part ™ Função de reconhecimento inteligente

Opcional

Medição do revestimento

✔️

Examinação RoHS

✔️

Software

FT Conectar