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Edifício 5, Qingqiao Ke Chuang Park, 1601-1609, Lian Road, Distrito de Minhang, Xangai
Hitachi Analytical Instruments (Shanghai) Co., Ltd.
hha.contact@hitachi-hightech.com
Edifício 5, Qingqiao Ke Chuang Park, 1601-1609, Lian Road, Distrito de Minhang, Xangai
Resumo:
do FT230Medidor de espessura de revestimento XRF de mesaO design reduziu significativamente o tempo de medição. Os engenheiros da Hitachi perceberam que a configuração de amostras e a escolha de fórmulas de medição tendem a levar muito tempo, por isso lançaram um analisador inovador que pode efetivamente "configurar" a si mesmo, permitindo que mais peças possam ser analisadas durante o processo.
Automação e software inovadordo FT230Medidor de espessura de revestimento XRF de mesaCaracterísticas. Módulos de reconhecimento inteligentes, como Find My Part ™ (Encontre minha amostra), o que significa que o operador basta carregar a amostra, confirmar a peça e o FT230 lidará com o resto. Ele encontrará a posição certa de medição no seu componente - mesmo em substratos grandes - selecionará o processo de análise certo e enviará os resultados ao seu sistema de qualidade. Reduz o tempo e os erros humanos, permitindo que você complete mais análises em menos tempo, tornando inspeções de alta eficiência mais realistas em ambientes de produção movimentados.
Destaques do produto
Cada parte do FT230 foi projetada para reduzir significativamente o tempo de análise.
·O foco automático reduz o tempo de carregamento da amostra
· Find My Part ™ Identificação inteligente automática para configurar um programa completo de medição
·A maior parte da tela é usada para exibir visualizações de amostra, proporcionando visibilidade excelente
·Procedimentos de autodiagnóstico garantem a condição e a estabilidade do instrumento
·A integração perfeita com outros softwares permite exportar dados facilmente
·Graças à nova interface de usuário, os não profissionais também podem ser intuitivos e fáceis de usar.
·Potente para medição simultânea de quatro camadas de revestimento e análise de substratos
·Durável e longa vida útil em ambientes de produção ou laboratório testados
·Conforme às normas ASTM B568 e DIN ISO 3497
·Ajude-o a atender às especificações ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), estanho imerso (IPC-4554) e prata imersa (IPC-4553A)
FT230 Analisador XRF de mesa |
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| Escala de elementos | Alumínio (13) - Urânio (92) |
| Detectores | Detector de deriva de silício (SDD) |
| Projeto da amostra | Ranura e fechamento |
| Projeto da amostra XY | Elétrico ou fixo |
| Viagem da amostra XY | 250 x 200 milímetros |
| Corrida elétrica do eixo Z | 205 milímetros |
| Tamanho máximo da amostra | 500 x 400 x 150 milímetros |
| Número de alinhadores | 4 |
| Foco laser | Incluído na configuração padrão |
| Foco automático | Opcional |
Câmera de ângulo amplo |
Opcional |
Medição independente da distância |
Opcional |
Find My Part ™ Função de reconhecimento inteligente |
Opcional |
Medição do revestimento |
✔️ |
Examinação RoHS |
✔️ |
Software |
FT Conectar |