Analisador de raios X

Análise rápida

O uso inovador de imagens de transmissão de raios-X em conjunto com a espectroscopia avançada de fluorescência de raios-X torna o EA8000A 100 vezes mais rápido do que outros métodos. Por exemplo, a detecção e análise da composição de partículas metálicas de 20 µm em uma área de 200 x 250 mm podem ser realizadas em apenas 30 minutos.

Operação automática

O EA8000A detecta objetos metálicos estranhos através de imagens de projeção de raios-X e, em seguida, digitaliza automaticamente essas áreas usando a tecnologia XRF.

Capacidade de detectar objetos estranhos incorporados

A tecnologia de imagem utilizada pela Hitachi garante a detecção de objetos metálicos estranhos em todo o volume da amostra. O mecanismo óptico capilar avançado XRF oferece um feixe de raios X altamente focado e forte para analisar objetos metálicos estranhos sob a superfície de placas de eletrodos e filmes orgânicos.

Apoio à produção em massa

O EA8000A oferece versatilidade, alta velocidade e automação para suportar produção em massa. Ele é ideal para análise de matérias-primas, controle de processo e análise de falhas, garantindo que todos os aspectos da produção de baterias de íons de lítio atendam a altos padrões de qualidade.

Especificações do Analisador de Raios X EA8000A