O instrumento de medição óptica de contorno de mesa SuperViewW é projetado com várias tecnologias básicas e facilidade de uso, que combinam precisão de medição, facilidade de operação e estabilidade do equipamento, adaptando-se às necessidades de detecção de contorno de alta precisão de múltiplos cenários e vários tipos de amostras para atender às condições de medição de alta precisão.
O medidor de contorno óptico de mesa SuperViewW baseia-se no princípio de interferência de luz branca e usa o modo de medição 3D sem contato para medir e analisar com precisão os principais parâmetros e tamanhos da forma da superfície da amostra. Os resultados da medição básica abrangem as seguintes duas categorias:
1, parâmetros da forma da superfície: contém vários indicadores como rugosidade, planície, paralelidade, altura de degraus, ângulo de cone;
Parâmetros de características geométricas: abrangem os principais dados como tamanho de abertura, raio de curvatura, área e volume da área característica, posição e quantidade dos gráficos característicos.

Características do medidor de contorno óptico de mesa SuperViewW
O instrumento de medição óptica de contorno de mesa SuperViewW é projetado com várias tecnologias básicas e facilidade de uso, que combinam precisão de medição, facilidade de operação e estabilidade do equipamento, adaptando-se às necessidades de detecção de contorno de alta precisão de múltiplos cenários e vários tipos de amostras para atender às condições de medição de alta precisão.As principais características do produto são as seguintes:
1, objetos de interferência múltiplos
Equipado com uma variedade de objetos de interferência de diferentes taxas de ampliação, pode ser flexível para todos os tipos de detecção da superfície da amostra, seja superfície super lisa ou superfície convencional com diferentes rugosidades, pode alcançar a adaptação precisa, cobrindo diversas necessidades de medição da amostra, garantindo a adaptabilidade da medição em diferentes condições de trabalho.
2, sistema de isolamento flutuante de ar de dois canais
Equipado com um sistema de isolamento flutuante de gás de dois canais, pode ser operado por meio de uma fonte de gás externa e um dispositivo de pressão, que pode bloquear de forma eficiente todos os tipos de ruído de vibração derivado da condução do solo, evitando a interferência da vibração do solo na precisão da medição da fonte e construindo uma base estável para a medição de alta precisão.
3, design de proteção de isolamento sonoro
Adotando o design separado da caixa do instrumento e do mecanismo de movimento interno, cortando o caminho de condução da vibração da onda acústica, isolando eficazmente o efeito da vibração da onda acústica externa sobre os componentes de medição de precisão internos, reforçando ainda mais a capacidade anti-interferência do equipamento para garantir a estabilidade do processo de medição sem viés.
Dispositivo de ajuste horizontal preciso
Equipado com um botão de ajuste de inclinação dedicado, pode ajustar a largura da faixa com flexibilidade, otimizar os efeitos de imagem de medição e melhorar significativamente a precisão da reconstrução de imagens 3D para obter dados de contorno 3D mais claros e precisos para os requisitos exigentes de inspeção de alta precisão.
5, joystick portátil ergonômico
Adotando um design ergonômico de joystick portátil para manobrar confortavelmente e economizar esforço; A função de controle automático de deslocamento de três eixos, velocidade de três eixos e brilho da fonte de luz do XYZ é fácil de operar e eficiente, ao mesmo tempo que o botão de parada de emergência é equipado para responder rapidamente a situações de emergência e garantir a segurança do equipamento e da amostra.
6, mesa de adsorção de vácuo para semicondutores
Mesa de adsorção de vácuo personalizada para wafer semicondutor, pode fixar firmemente a amostra a medir, evitar a perturbação da posição da amostra durante o processo de medição do fluxo de ar fraco, eliminar o problema de deslocamento da amostra e garantir a estabilidade e precisão dos dados de medição.
Algoritmo de reconstrução 3D de alta precisão
Equipado com um algoritmo de reconstrução 3D de alto desempenho, pode filtrar automaticamente vários tipos de ruído na superfície da amostra para otimizar a qualidade dos dados de medição; Combinado com um sistema de hardware de alto desempenho, a precisão da medição é alcançada até o nível nanométrico para atender às principais necessidades de medição de contorno ultra-precisão.
Plataforma de software de micromedição 3D Xtremevision Pro

Xtremevision Pro
A plataforma de software de medição 3D microscópica de segunda geração desenvolvida totalmente independentemente, integra a varredura de imagem, análise 3D, medição de imagem, medição automatizada e outros quatro grandes módulos funcionais, que podem adaptar-se a todos os modelos de instrumentos 3D da série W, série VT e série WT, que podem reconhecer os tipos de modelos de forma independente, o modelo 2 em 1 pode fazer a mudança automática de modo de varredura em interferência de luz branca e microscópio confocal.
O Xtremevision Pro transporta a experiência bem-sucedida de imagens medianas no campo da imagem flash para reconstruir a capacidade de medição de imagens microscópicas para medições diretas e automáticas para parâmetros como pontos, distâncias entre linhas, ângulos, raios e outros tamanhos do contorno do plano microscópico.
Automação de localização de coordenadas de reconhecimento de pontos de marca

A imagem do ponto de marca reconhece a correção automática da posição das coordenadas, a medição e a análise automática do posicionamento dos pontos de coordenadas multi-regionais, e pode ser combinada para completar a medição automática em lote da rugosidade e do tamanho do contorno.
Função de junção automática

Suporta medição automática de juntas em formas quadradas, redondas, circulares e espirais, com navegação de imagem para áreas de medição personalizadas e suporte a medição de juntas sem problemas de milhares de imagens.
Imagens do campo de aplicação
SuperVisãoMedidor de contorno óptico de mesaÉ possível medir e analisar a rugosidade, ondulação, contorno da superfície, defeitos de superfície, desgaste, corrosão, espaço de poro, altura de degraus, deformação de curvatura, processamento e outras características morfológicas da superfície de vários produtos, componentes e materiais.

Alguns indicadores técnicos
| modelo | do W1 |
| Fonte de Luz | Luz branca LED |
| Sistema de imagem | 1024×1024 |
| Objetivos de interferência | Dimensão padrão: 10× Opção: 2,5× 5×; 20×; 50×; 100× |
| Zoom óptico | Dimensão padrão: 0,5× Opção: 0,375×; 0.75×; 1× |
| Torre de objetos | Equipamento padrão: manual de 3 buracos Opção: 5 buracos elétricos |
| Plataforma de deslocamento XY | Dimensões | 320×200 ㎜ |
| Área de movimento | 140×100 ㎜ |
| Carga | 10kg |
| Modo de controle | elétrico |
| Foco do eixo Z | itinerário | 100㎜ |
| Modo de controle | elétrico |
| Z Escanão | 10 ㎜ |
| Tamanho do host (L x L x A) | 700×606×920 ㎜ |
Atenção: devido ao desenvolvimento do mercado e às necessidades de pesquisa e desenvolvimento de produtos, o conteúdo relacionado com este produto pode ser atualizado e revisado de acordo com as circunstâncias reais, sem aviso prévio. Se você tiver dúvidas ou precisar de mais detalhes, não hesite em consultar o instrumento.