Espectrómetro fluorescente X EDX4500

O espectrómetro de fluorescência X utiliza o princípio de detecção XRF para realizar análises rápidas, precisas e sem danos de vários componentes elementares.

O espectrômetro fluorescente EDX4500X oferece vantagens únicas para as empresas siderúrgicas na análise pré-forno durante a fusão e na análise da composição elementar em produtos acabados de aço.

Tabela de comparação de eficiência antes e depois do uso da tecnologia XRF em fábricas de aço, por exemplo

A principal característica deste instrumento é o uso de um sistema de vácuo inteligente, que pode ter um bom efeito de excitação para elementos leves como Si, P, S, Al, Mg e outros, o uso da tecnologia XRF pode realizar uma análise precisa de elementos centrais como Cr, Ni, Mo e outros em alto teor, desempenhou um curto tempo de teste no controle do processo de fundição, melhorando significativamente a eficiência da detecção e a eficiência do trabalho.

Além disso, a análise de ligas, análise de elementos completos e aplicações de detecção de elementos perigosos também são muito amplas.

Área de aplicação

Detecção de aço, análise de elementos completos de liga de ferro, detecção de elementos perigosos.

Parâmetros de desempenho do produto

Gama de elementos de medição: sódio (Na) ~ urânio (U)

Alcance de análise do conteúdo de elementos: ppm ~ 99,99% (materiais diferentes, alcance de análise diferente)

Análise simultânea de elementos: medição de dezenas de elementos de uma só vez

Precisão analítica: 0,05% (amostras com conteúdo superior a 96%, estabilidade em 21 testes)

Tempo de medição: 60 a 200 segundos

Resolução energética do detector: 145±5ev

Pressão do tubo: 5KV ~ 50KV

Corrente do tubo: 50uA ~ 1000uA

Estado do objeto de medição: pó, sólido, líquido

Tensão de entrada: AC 110V / 220V

Temperatura ambiente: 15 ℃ ~ 30 ℃

Umidade Ambiental: 35%~70%

Volume da cavidade da amostra: 320mm x 100mm

Dimensões: 660mm × 510mm × 350mm

Peso: 65Kg

Configuração padrão

Tubo de raios X de janela ultrafina de alta eficiência

Detector de deriva de silício SDD

Tecnologia digital multicanal

Amplificador de relação sinal-ruído SNE

Acessórios para testes na indústria siderúrgica

Sistema de melhoria óptica

Unidade de linha eletrônica de alta relação sinal-ruído

Câmera de alta definição incorporada

Rectificadores e filtros de comutação automática

Dispositivo de estabilização automática do espectro

Modo de proteção tripla

Modelo de correção de efeitos de matriz independente

Programa de regressão não linear multivariável

Estrutura de aço global confiável

Tela LCD de estado de 90mm x 70mm

bomba de vácuo

Características de desempenho

Tubo de raios X de janela ultrafina de alta eficiência, o indicador atinge o nível internacional de primeiro jin

A mais recente tecnologia multicanal digital permite que os testes sejam mais rápidos, contagem de até 100.000 CPS, maior precisão e melhor desempenho na detecção de ligas

Detector de deriva de silício SDD com boa linearidade energética, resolução energética e propriedades espectrais energéticas, maior relação pico de volta

Amplificador de relação de sinal-ruído (SNE) com produtos patenteados, melhorando a capacidade de processamento de sinal mais de 25 vezes

Raios-X de baixa energia estimulam elementos a serem medidos, com bom efeito de estimulação de elementos leves como Si e P

Sistema de vácuo de bombeamento inteligente que protege os efeitos do ar e amplia significativamente o escopo dos testes

Dispositivo automático de estabilização do espectro garante a consistência do trabalho do instrumento

Unidade de linha eletrônica com alta relação sinal-ruído

Alterna automaticamente o rectificador e o filtro para diferentes amostras para evitar o trabalho manual

Tecnologia de desespectrificação permite a descomposição de picos espectrais, permitindo que os resultados dos testes dos elementos a serem medidos tenham a mesma precisão analítica

Método de regressão linear multiparâmetro, para que a absorção e o efeito de reforço entre os elementos são claramente inibidos

Câmera de alta definição incorporada

A tela LCD mostra os parâmetros importantes do instrumento (pressão do tubo, fluxo do tubo, vácuo) de um olhar

Introdução ao software

Alterna automaticamente de inglês para que os clientes possam adicionar outros idiomas a pedido

Design de interface humana, janelas bonitas e razoáveis

Função de armazenamento de curva de trabalho e espaço de trabalho múltiplo para análise fácil de todos os tipos de amostras

Metodos de cálculo de intensidade espectral como Gauss, área líquida, área completa e ajuste de elementos

Sistema de reconhecimento automático de elementos extremamente sensível

Teste de instâncias e dados

O EDX 4500 mede dados de Cr, Mn, Ni, Cu e Mo das amostras nacionais de aço inoxidável