Microscópio Elíptico

do Accurion EP4Microscópio Elíptico

Uso: medição de espessuras e constantes ópticas (n, k) em películas de camadas múltiplas

• A resolução horizontal (direção x/y) é de até 1 micrão e a espessura da película é medida com precisão de 0,1 nanômetro.

• Função de medição de seção: medição elíptica de seção para amostras microestruturais e pequenas

• Imagem direta de campo de visão com microscópio completo, substituindo a medição de ponto único tradicional

• Tecnologia de corte de manchas ópticas para realmente alcançar transparência ultrafina; Medição de elipse de reflexão sem fundo em películas finas no fundo

• Tecnologias como o microscópio de força atômica (AFM).

Resonância de Plasma de Superfície (SPR), Espectroscopia de Reflexão (RefSpec),

Espectrómetro Raman (RamanSpec), microbalança de cristal de quartzo (QCM),

Interferômetro de luz branca (WLI) e balança de cavidade/membrana LB

do Accurion EP4Microscópio Elíptico

Uso: medição de espessuras e constantes ópticas (n, k) em películas de camadas múltiplas

• A resolução horizontal (direção x/y) é de até 1 micrão e a espessura da película é medida com precisão de 0,1 nanômetro.

• Função de medição de seção: medição elíptica de seção para amostras microestruturais e pequenas

• Imagem direta de campo de visão com microscópio completo, substituindo a medição de ponto único tradicional

• Tecnologia de corte de manchas ópticas para realmente alcançar transparência ultrafina; Medição de elipse de reflexão sem fundo em películas finas no fundo

• Tecnologias como o microscópio de força atômica (AFM).

Resonância de Plasma de Superfície (SPR), Espectroscopia de Reflexão (RefSpec),

Espectrómetro Raman (RamanSpec), microbalança de cristal de quartzo (QCM),

Interferômetro de luz branca (WLI) e balança de cavidade/membrana LB