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Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo

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O GeminiSEM 360 facilita a obtenção de imagens em resolução sub-nanométrica. As excelentes técnicas de imagem e análise tornam o FE-SEM (microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo) mais valioso.
Detalhes do produto

O ZEISS GeminiSEM 360

FE-SEM atende às altas exigências de imagem sub-nanométrica, análise e flexibilidade de amostras

O ZEISS GeminiSEM facilita a obtenção de imagens em resolução sub-nanométrica. Excelentes técnicas de imagem e análise tornam o FE-SEM (Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campocomo asas de tigre. O nosso inovador sistema óptico eletrônico e o novo design do armazém de amostras não só facilitam a operação e a flexibilidade dos usos, mas também oferecem uma qualidade de imagem superior. Imagens sub-nanométricas abaixo de 1 kV podem ser obtidas sem a necessidade de um objeto submerso. Explore os três projetos do sistema eletrônico e óptico ZEISS Gemini:

lIdeal para plataformas de teste analíticoO ZEISS GeminiSEM 360

lAnálise eficiente——O ZEISS GeminiSEM 460

lNovos padrões para imagens de superfície——CaiDivisão GeminiSEM 560

场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 360Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campoÉ o equipamento ideal para sua plataforma de teste analítico, oferecendo funcionalidades benéficas para materiais e ciências da vida, e para a indústria. Com sua lente óptica eletrônica Gemini1, o GeminiSEM 360 oferece imagem e análise de alta resolução para uma ampla variedade de aplicações e tipos de amostras.

Alta flexibilidade da amostra

Excelente experiência do usuário

Excelente capacidade de expansão

场发射扫描电子显微镜

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Alta flexibilidade da amostra

✔ O GeminiSEM 360 é o equipamento ideal para plataformas de teste analítico, oferecendo funcionalidades benéficas para materiais e ciências da vida, bem como para a indústria.

✔ O design óptico eletrônico do mesmo nome do Gemini 1 oferece imagens de alta resolução sensíveis à superfície, com excelente resolução mesmo em condições de baixa tensão e imagens rápidas em condições de alta corrente da sonda.

✔ A imagem eletrônica secundária Inlens e a imagem eletrônica de retrodispersão podem coletar simultaneamente informações de formação de superfície e revestimento de componentes compostos de alta resolução (o mesmo vale para amostras sensíveis ao feixe de eletrões).

✔ A imagem de amostras isoladas em condições de baixo vácuo (ou seja, pressão variável) sem sacrificar o revestimento Inlens: o NanoVP garante excelentes funções para garantir a imagem Inlens sem serem afetadas por cargas elétricas.

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Excelente experiência do usuário

✔ O GeminiSEM 360 oferece uma excelente experiência do usuário: com o seu amplo campo de visão e o novo depósito de amostras altamente personalizado, é fácil de detectar, mesmo com amostras muito grandes.

✔ Com a imagem associada e a microtecnologia associada do ZEISS ZEN Connect, você pode navegar sem problemas.

✔ Obtenha imagens claras com recursos automáticos, como foco automático e detectores inteligentes.

✔ As portas EDS com design geometricamente simétrico e a geometria EDS/EBSD com face comum permitem que você seja mais flexível ao executar fluxos de trabalho de imagem e análise eficientes.

✔ O ZEISS Predictive Service (manutenção preventiva) permite que você aproveite ao máximo o tempo de funcionamento do sistema e aproveite a manutenção regular a qualquer momento.

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Excelente capacidade de expansão

✔ A atualização contínua do sistema é uma pré-condição para garantir o seu investimento. Assim, o GeminiSEM 360 também faz parte do ecossistema de software ZEN core da ZEISS, permitindo que você usufrua da facilidade de atualização do sistema.

✔ O ZEN Connect combina dados multimodais e em múltiplas escalas, o ZEN Intellesis para segmentação de imagens suportada por inteligência artificial avançada, o módulo de análise do ZEN para relatórios e análise de dados segmentados e o armazenamento de dados do ZEN permite gerenciar projetos de forma centralizada conectando dados coletados por diferentes dispositivos no laboratório.

✔ Como membro da comunidade APEER, você pode acessar fluxos de trabalho e scripts criados por outros usuários para ajudá-lo a resolver problemas remotamente.

✔ Devido à disponibilidade de um caminho claro para a atualização, o sistema pode ser melhorado ainda mais com o lançamento de novos recursos.


Introdução aos princípios básicos

O FE-SEM foi projetado para imagens de alta resolução e uma chave para o desempenho é o seu espelho óptico eletrônico. O Gemini foi especialmente projetado para obter uma excelente resolução em qualquer amostra (especialmente em baixas tensões de aceleração), permitindo uma detecção completa e eficiente e fácil de operar.

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O sistema óptico eletrônico Gemini tem as seguintes três características principais:

O projeto da objetiva Gemini combina campos eletrostáticos e eletromagnéticos para melhorar significativamente o desempenho óptico e reduzir significativamente o impacto na amostra. Isso também permite imagens de alta qualidade para amostras desafiadoras, como materiais magnéticos.

A tecnologia de propulsor de feixe de eletrônicos Gemini é um redutor de feixe integrado que garante pequenas manchas de feixe de eletrônicos e alta relação sinal-ruído.

O princípio de design de detecção do Gemini Inlens garante uma detecção de sinal eficiente, reduzindo drasticamente o tempo para a imagem ao detectar eletrões secundários (SE) e eletrões de retrodispersão (BSE) simultaneamente.

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Para sua aplicação, você pode ter as seguintes vantagens:

✔ O alinhamento do feixe de eletrões SEM permanece estável a longo prazo, mudando a corrente da sonda e a tensão de aceleração com pouco impacto no sistema.

✔ Os sistemas ópticos quase sem vazamento de campo magnético permitem imagens de alta resolução sem distorção.

✔ Usando o detector Inlens SE, imagens podem ser geradas com a tecnologia eletrônica SE 1 de verdadeira sensibilidade de superfície, obtendo informações apenas na camada mais alta da amostra.

✔ Usando o conceito de design de detecção do detector Inlens EsB, obtém um revestimento real da composição do material a uma tensão muito baixa.


场发射扫描电子显微镜

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