Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo

O ZEISS GeminiSEM 460

FE-SEM atende às altas exigências de imagem sub-nanométrica, análise e flexibilidade de amostras

O ZEISS GeminiSEM facilita a obtenção de imagens em resolução sub-nanométrica. Excelentes técnicas de imagem e análise tornam o FE-SEM (Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campocomo asas de tigre. O nosso inovador sistema óptico eletrônico e o novo design do armazém de amostras não só facilitam a operação e a flexibilidade dos usos, mas também oferecem uma qualidade de imagem superior. Imagens sub-nanométricas abaixo de 1 kV podem ser obtidas sem a necessidade de um objeto submerso. Explore os três projetos do sistema eletrônico e óptico ZEISS Gemini:

lA plataforma ideal para testes analíticos: o ZEISS GeminiSEM 360

lAnálise eficiente – ZEISS GeminiSEM 460

lNovo padrão para imagens de superfície: o ZEISS GeminiSEM 560

GeminisEM 460Microscópio eletrônico de varredura de lançamento de campo)Projetado para tarefas de análise exigentes, permite análises eficientes e fluxos de trabalho automatizados. Em tarefas analíticas desafiadoras no campo do microscópio, o seu espelho Gemini 2 pode ajudá-lo a alternar perfeitamente entre as condições de imagem e análise.

✔Compatibilidade entre alta resolução e alta corrente

✔Fluxo de trabalho automatizado personalizado

✔Mais possibilidades para você

Compatibilidade entre alta resolução e alta corrente

✔ O GeminiSEM 460 foi projetado para tarefas de análise exigentes, permitindo uma análise eficiente e fluxos de trabalho automatizados.

✔ Execute imagens e análises de alta resolução rapidamente: Use o espelho Gemini 2 para mudar sem problemas de condições de trabalho de baixa corrente de feixe e baixa tensão para condições de trabalho de alta corrente de feixe e alta tensão (ou vice-versa).

✔ Simultaneamente, é possível usar vários detectores para a caracterização multidirecional de qualquer amostra.

✔ Utilize o armazém de amostras multifuncional para uma análise eficiente e selecione o detector de análise adequado.

✔ Aumente a corrente no novo modo VP para obter imagens EBSD de contagem de até 4.000 pontos por segundo.

✔ Duas portas EDS geometricamente simétricas e uma configuração EDS/EBSD co-superficial permitem detectar a composição química e a orientação do cristal para obter imagens EDS/EBSD de alta velocidade e sem sombras.

Fluxo de trabalho automatizado personalizado

✔ Com essa capacidade analítica poderosa, a automação do fluxo de trabalho é fundamental. Usando a API de scripts Python da ZEISS, você pode criar e configurar seus próprios processos experimentais automatizados.

✔ Modifique o processo experimental de acordo com suas necessidades personalizadas e adapte os resultados desejados.

✔ Aproveite ao máximo as funcionalidades de tomografia STEM: combinando as funções de inclinação e rotação automáticas com o rastreamento de características, você pode criar tomografias 3D com resolução em nanoescala depois de enviar todas as imagens alinhadas para o software de reconstrução 3D exclusivo.

✔ Se você precisar testar os limites de resistência dos materiais, a ZEISS oferece uma plataforma experimental para realizar experimentos automatizados de aquecimento e estiramento in situ, que apresentam automaticamente o material sob aquecimento e estiramento e desenham curvas de tensão em tempo real.

Mais possibilidades para você

✔ Com base no design do espelho Gemini 2, a capacidade analítica é significativamente melhorada em condições de densidade de corrente ajustável ultra-alta, mesmo em condições de baixa tensão, quando usadas nas áreas de materiais e ciências da vida.

✔ Você pode aproveitar todos os acessórios para atualizar o sistema. Por exemplo, não só é possível adicionar equipamentos de análise, mas também configurar depósitos de amostras multifuncionais usando equipamentos de experimentação in situ, imagens congeladas e equipamentos de nanosondas. A memória permite que você se conecte aos dados coletados por diferentes dispositivos no laboratório para gerenciar projetos de forma centralizada.

✔ Várias configurações podem ser montadas e atualizadas facilmente a qualquer momento durante o uso do dispositivo.

✔ Todos os GeminiSEM integram-se ao ecossistema ZEN core da ZEIS, que lhe dá acesso aos módulos de análise ZEN Connect, ZEN Intellesis e ZEN para gerar relatórios e implementar fluxos de trabalho GxP.

Aproveite ao máximo a análise rápida

A caracterização completa de qualquer amostra requer imagens e análises de alto desempenho e, além disso, os usuários de hoje querem que o dispositivo seja fácil de configurar e operar..Gemini 2 ópticaO sistema atende a essas necessidades.

Alternação perfeita entre imagens e análises de alta resolução

O GeminiSEM 460 é equipado com o sistema óptico Gemini 2 com foco duplo.

Ajuste contínuamente a intensidade de corrente do feixe de eletrônicos, otimizando o tamanho da placa do feixe.

Alterna sem problemas entre imagens de alta resolução com fluxos baixos e modelos de análise com fluxos elevados.

● Não é necessária calibração após a alteração dos parâmetros de imagem, economizando tempo e esforço.

Mantenha-se flexível e eficiente

✔ Mantenha-se flexível: Use a alta densidade de energia do feixe de eletrões para obter imagens e análises de alta resolução em fluxos de feixe baixos e elevados, independentemente da energia do feixe de eletrões escolhida.

✔ As amostras não são expostas ao campo magnético: padrões EBSD sem distorção e imagens de alta resolução são alcançados dentro de um grande campo de visão.

✔ A inclinação da amostra não afeta o desempenho do sistema óptico eletrônico e as amostras magnéticas podem ser facilmente imagenadas.

✔ Escolha o modo de consumo adequado para a amostra: compensação de carga local, pressão variável na câmara ou NanoVP.

Tomografia 3D STEM

Agora, você pode fazer tomografia STEM automática no FE-SEM. Um script que usa uma API para a captura automática de uma série de inclinações STEM executa a rotação do centro de excelência, o movimento de inclinação da mesa de carregamento e o foco automático e a captura de imagens. Além disso, o rastreamento de características compensa o desvio de toda a série de inclinação e mantém o desvio entre as duas imagens a um mínimo de cerca de 50 nm. O veículo de amostra STEM permite que a mesa de carregamento se incline 60° e gire 180°, e o detector aSTEM cobre todas as necessidades. Por fim, o software de reconstrução 3D da equipe de desenvolvimento do Advanced Reconstruction Toolkit (ART) usa essa saída para renderizar um modelo 3D de sua amostra.