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Wuxi Junzhan Instrument Co., Ltd
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Agente do medidor de espessura de raios X Fischer XDLM237

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Visão geral

O FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 é um espectrómetro totalmente automático de fluorescência de raios X (EDXRF) com dispersão de energia, produzido pela Helmut Fischer, na Alemanha, para medição de espessura de revestimentos e análise de composição de materiais sem danos, o principal equipamento de controle de qualidade para a indústria de eletrônica, chapas eletrônicas e semicondutores.

Detalhes do produto

Agente do medidor de espessura de raios X Fischer XDLM237

Posicionamento e características do núcleo do medidor de espessura de raios-X FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237

Medição totalmente automática: com mesa de amostragem elétrica programável do eixo XY+Z, suporte para digitalização automática de peças em lote e medição multiponto.

Microfoco de alta precisão: Diâmetro mínimo da mancha de 0,1 mm, projetado para peças de precisão pequenas, como conectores, pinos.

Medição de cima para baixo: adequado para superfícies curvas, peças deformadas, sem restrições de planície da amostra.

Compatível com amostras grandes: o corpo tem ranuras tipo C para medir peças planas, como PCBs de área muito grande.

Conformidade com as normas internacionais: medição conforme DIN ISO 3497 e ASTM B 568.

Parâmetros técnicos detalhados

1. Sistema básico

Fonte de raios X: tubo de raios alvo de tungstênio microfocalizado, alta tensão de três passos (10 / 30 / 50 kV)

Contador proporcional (Proportional Counter)

Elementos de medição: alumínio (Al, 13) urânio (U, 92) para análise simultânea de ≤24 elementos

Modo de medição: espessura de revestimento de camada única / múltipla, composição de liga, detecção de substâncias perigosas (RoHS)

Óptica e posicionamento

Rectificador (4 tipos): 0,1 mm / 0,3 mm / 0,6 mm / 0,5 x 0,15 mm de fenda

Filtros (3 tipos): níquel (Ni) / alumínio (Al) / sem filtro

Sistema de posicionamento: câmera CCD a cores (zoom 40-160 vezes) + posicionamento a laser + iluminação LED

Compensação de distância: Tecnologia DCM para compensar automaticamente a diferença de altura da amostra

Banco de amostras (XDLM 237)

Passagem XY: 255 x 235 mm

Destaque do eixo Z: 140 mm

Velocidade: ≤ 80 mm/s

Precisão de repetição: XY ≤ 0,01 mm

Altura da amostra: 140 mm

Peso: padrão 5 kg / 20 kg (precisão reduzida)

4. Especificações Físicas

Dimensões: 570 x 760 x 650 mm (L x D x H)

Peso: aproximadamente 120 kg

Alimentação: 115/230 V, 50/60 Hz

Potência: 120 W