- Telefone
-
Endereço
18º andar, Edifício de Desenvolvimento de Pequim, 5, Dongshan Ring North Road, Pequim
Categorias do produto
- Medidor de painel
- Solução MES integrada CyberPlant
- Analisadores clínicos, sistemas de inspeção, etc.
- Espectrofotômetro de absorção atómica (AA)
- Microscópio de força atômica
- Série de transmissores de pressão diferencial
- Titrador de Potencial・Titrador de Humidade Calfisch
- Microscópio eletrônico (SEM/TEM/STEM)
- Instrumentos periféricos
- Instrumentos de análise espectral (UV-Vis/NIR, FL)
- Cromatográfica líquida de alta eficiência e analisador de aminoácidos (HPLC/AAA)
Hitachi High-tech (Xangai) International Trade Co., Ltd.
Sistema de imagem distribuída por fluorescência EEM View
NegociávelAtualização em05/20
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
O sistema de imagem distribuída por fluorescência tem um novo design para medir e observar dados espectrais de amostras. Usando o algoritmo de processamento de imagem espectral de IA*1, não só é possível exibir imagens fluorescentes e reflexivas de amostras separadamente, mas também é possível obter imagens espectrais de diferentes regiões*1 (espectro fluorescente, espectro reflexivo). *1 O sistema de computação é o resultado de pesquisas conjuntas do Professor IMARI SATO e do Professor Adjunto Zheng Yinqiang, do Instituto Nacional de Informática. * EEM é uma marca registrada da Hitachi High-Tech Science Corporation na China e no Japão
Detalhes do produto
Sistema de imagem distribuída por fluorescência EEM ® View
O sistema de imagem distribuída por fluorescência tem um novo design para medir e observar dados espectrais de amostras. Algoritmos de processamento de imagens espectrais com IA*1Não só é possível exibir imagens fluorescentes e reflexivas de amostras separadamente, mas também é possível obter imagens espectrais de diferentes regiões*1(Espectroscopia fluorescente, espectroscopia de reflexão).
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- Os sistemas de computação são o resultado de pesquisas conjuntas do Professor IMARI SATO e do Professor Adjunto Zheng Yingqiang, do Instituto Nacional de Informática.
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- "EEM" é uma marca registrada da Hitachi High-Tech Science Corporation na China e no Japão
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Características
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Dados da aplicação
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Indicadores
Características
O que é EEM View?
Novas tecnologias permitem obter imagens fluorescentes e espectrais refletidos simultaneamente
- Dados espectrais da amostra de medição (espectroscopia de reflexão, espectroscopia de fluorescência)
- Tire amostras em diferentes condições de origem de luz (luz branca e monocromática)
(Área: Φ20 mm, faixa de comprimento de onda: 380 ~ 700 nm) - Algoritmos de processamento de imagem espectral AI＊1Capaz de exibir imagens fluorescentes de amostra e imagens refletidas separadamente
- Informações espectrais para diferentes regiões de acordo com a imagem＊1(Espectroscopia de fluorescência, espectroscopia de reflexão)
- *1
- Os sistemas de computação são o resultado de uma pesquisa conjunta do Professor IMARI SATO e do Professor Adjunto Zheng Yingqiang, do Instituto Nacional de Informática
Interface EEM View Analysis (amostra: placa LED)
Visão geral do sistema de imagem distribuída por fluorescência
Sistema de fonte de luz uniforme
Obter imagens fluorescentes · refletidas e espectros de amostras ao mesmo tempo!
- Reflexão esférica integral uniformiza a fonte de luz
- Iluminação uniforme de amostras com luz coletada usando bolas integrais
- Modo de dupla detecção com detector de fluorescência e câmera CMOS
O novo sistema de imagem distribuída por fluorescência pode ser instalado no armazém de amostras do espectrofotômetro de fluorescência F-7100. A luz de entrada é irradiada uniformemente para a amostra após a difusão da esfera integral, usando o detector de fluorescência padrão F-7100 para obter o espectro de fluorescência da amostra, combinando a câmera CMOS abaixo da esfera integral para obter imagens da amostra e usando um algoritmo de processamento de imagem espectral AI único para obter imagens refletidas e fluorescentes simultaneamente.
Instalação da amostra é simples, aplicável a vários testes de amostra!
Basta colocar a amostra na bola de pontos, a instalação é muito simples!
- Amostra em placa: Instalar a amostra através de uma janela de quartzo.
- Amostras de pó: preencha o pó em uma fixação plana da amostra, coloque-o no suporte da piscina de amostras de pó ou instale a amostra usando a piscina de amostras de pó no suporte de amostras sólidas opcional.
- Para a correção, é necessário colocar uma amostra padrão de fluorescência.
- Use o quadro branco padrão (100%) e a amostra em branco (0%) opcionais para a correção. Esta ferramenta de correção pode ser aplicada para a correção de intensidade de fluorescência, reflexão e distribuição de brilho em diferentes áreas da imagem.
Dados da aplicação
Propriedades fluorescentes e confirmação estrutural de materiais microestruturais
Para melhorar a visibilidade, medimos reflexos fluorescentes com estruturas finas.
Obter dados espectrais e imagens de amostra simultaneamente
A amostra é irradiada com luz monocromática e branca na faixa de 360 nm a 700 nm. Neste momento, as imagens podem ser obtidas em diferentes condições de fonte de luz, enquanto o espectro de fluorescência pode ser obtido através de um detector de fluorescência. Após a conclusão da medição, o espectro de fluorescência tridimensional da amostra pode ser visualizado (comprimento de onda de excitação, comprimento de onda de emissão, intensidade de fluorescência). No software de análise dedicado, a imagem pode ser ampliada para exibir o espectro de fluorescência e reflexão de diferentes regiões. Assim, é possível confirmar o espectro de reflexão e fluorescência de amostras com distribuição desigual de propriedades ópticas.
Calcular e exibir espectros de diferentes regiões (fluorescência · reflexão)
Mostrar imagem separada (fluorescência · reflexão)
Separação da imagem do componente de luz refletida da imagem do componente de fluorescência
Usando um algoritmo de processamento de imagem espectral de IA, as imagens tiradas são separadas em imagens de componentes de luz refletida e componentes fluorescentes. Como resultado, a imagem do componente de luz refletida é exibida em laranja e a imagem do componente fluorescente é exibida em verde. Ambos são consistentes com a luz monocromática do espectro refletido e do espectro fluorescente, respectivamente. Assim, a amostra é uma mistura de luz laranja refletida e fluorescência verde e, portanto, amarela à luz branca. Além disso, as diferenças nas propriedades ópticas (padrões de imagem) de diferentes regiões da amostra podem ser observadas por imagens refletidas e fluorescentes. Após ampliar a imagem, pode-se ver que a microestrutura da placa reflexiva tem intervalos regulares, cuja largura de intervalo é de 200 μm.
Indicadores
Principais funções
| Projetos | Conteúdo |
|---|---|
| Modo de visualização EEM (Modelo de medição) |
Determinação do espectro fluorescente tridimensional |
| Imagem monocromática | |
| Imagem de luz branca | |
| Visualizar imagens | |
| Tratamento de dados | Mostrar miniaturas |
| Espectro de fluorescência tridimensional (linha isométrica, gradiente) | |
| Espectro de excitação/emissão | |
| Mostrar imagem ampliada | |
| Partição de imagem (1x1, 2x2, 3x3, 4x4, 5x5) | |
| Cálculo e exibição de espectros de diferentes regiões (fluorescência, reflexão)*1 | |
| Mostrar imagens separadas (fluorescência, reflexão)*1 |
- *1
- Os sistemas de computação são o resultado de uma pesquisa conjunta do Professor IMARI SATO e do Professor Adjunto Zheng Yingqiang, do Instituto Nacional de Informática
Especificações
| Projetos | Conteúdo |
|---|---|
| Comprimento de onda de irradiação |
360 nm ～700 nm |
| Câmera | Sensores CMOS coloridos (RGB) |
| Interface |
USB3.0 |
| Número de pixels válidos | 1920 × 1200（H×V） |
| Gama de comprimentos de onda fotográfica |
380 nm ～700 nm |
- *
- As principais especificações deste acessório são baseadas no projeto do fotométrico espectroscópico de fluorescência.
Exemplo de configuração
| Nome | P/N (número de série) |
|---|---|
| Espectrofotômetro de fluorescência F-7100 |
5J1-0042 |
| Acessórios EEM View |
5J0-0570 |
| R928F duplicador fotoelétrico |
650-1246 |
| Fonte de luz sub-padrão |
5J0-0136 |
Aplicações
Introdução a exemplos de medição de fluorescência espectral (FL).
Determinação precisa do espectro do espectrofotômetro de fluorescência
Apresenta métodos para corrigir as diferenças entre os dispositivos e remover a luz dispersa.
Espectroscopia de fluorescência de amostras sólidas
Apresenta um exemplo de medição espectroscópica de fluorescência usando um monitor de plasma de retenção de amostras sólidas (opcional).
Anéis Científicos
Apresenta o símbolo do Grupo Científico Hitachi de Alta Tecnologia, que visa líderes em ciência e tecnologia.
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