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Hitachi Analytical Instruments (Shanghai) Co., Ltd.
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Analisador de revestimento de raios X fluorescentes Hitachi

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Análise de revestimento inteligente, conectividade de dados, decolagem de eficiência. Os analisadores XRF de mesa da série FT230 são projetados para reduzir significativamente o tempo de medição. Os engenheiros da Hitachi perceberam que a configuração da amostra e a escolha da fórmula de medição tendem a levar muito tempo, por isso lançaram um analisador inovador que pode efetivamente "configurar" a si mesmo, permitindo que mais peças possam ser analisadas durante o processo.
Detalhes do produto

Análise de revestimento inteligente, conectividade de dados, decolagem de eficiência


Os analisadores XRF de mesa da série FT230 são projetados para reduzir significativamente o tempo de medição. Os engenheiros da Hitachi perceberam que a configuração de amostras e a escolha de fórmulas de medição tendem a levar muito tempo, por isso lançaram um analisador inovador que pode efetivamente "configurar" a si mesmo, permitindo que mais peças possam ser analisadas durante o processo.

Automação e software inovador são características do analisador FT230. Módulos de reconhecimento inteligentes, como Find My Part ™ (Encontre minha amostra), o que significa que o operador basta carregar a amostra, confirmar a peça e o FT230 lida com o resto. Ele encontrará a posição certa de medição no seu componente - mesmo em substratos grandes - selecionará o processo de análise certo e enviará os resultados ao seu sistema de qualidade. Reduz o tempo e os erros humanos, permitindo que você complete mais análises em menos tempo, tornando inspeções 100% mais realistas em ambientes de produção movimentados.



Destaques do produto

Cada parte do FT230 foi projetada para reduzir significativamente o tempo de análise

O foco automático reduz o tempo de carregamento da amostra

Find My Part ™ Identificação inteligente automática para configurar um programa completo de medição

A maior parte da tela é usada para exibir a visão de amostra para uma visibilidade brilhante

Procedimentos de autodiagnóstico garantem a condição e a estabilidade do instrumento

A integração perfeita com outros softwares permite exportar dados facilmente

Graças à nova interface de usuário, não profissionais também podem usar intuitivamente e facilmente

Potente para medição simultânea de quatro camadas de revestimento e análise de substratos

Durável e longa vida útil em ambientes de produção ou laboratório testados

Conforme às normas ASTM B568 e DIN ISO 3497

Ajude-o a atender às especificações ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), estanho imerso (IPC-4554) e prata imersa (IPC-4553A)