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Telescópio de transmissão de campo eletrônico japonês JEOL F200

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O microscópio de transmissão de campo JEOL F200 é a nova geração de microscópios de transmissão de eletrônicos de campo multiusos da eletrônica japonesa, que pode atender às diversas necessidades dos usuários de hoje. A F2 adota um design operacional integrado orientado ao usuário, garantindo alto desempenho e atendendo a diversas necessidades.

Detalhes do produto

Telescópio de transmissão de campo eletrônico japonês JEOL F200Descrição detalhada:

日本电子JEOL场发射透射电镜F200日本电子JEOL场发射透射电镜F200

Telescópio de transmissão de campo eletrônico japonês JEOL F200A aparência e o modo de funcionamento do JEM-F200 foram totalmente redesenhados com base no conceito de "inteligência". A nova interface homem-máquina permite que os usuários se concentrem na observação e análise eletroscópica. Graças aos anos de acumulação da eletrônica japonesa no campo da óptica eletrônica, o novo equipamento adotou o conceito de design de alta estabilidade do eletroscópio diferencial, a estabilidade mecânica e a estabilidade elétrica do equipamento foram melhoradas significativamente para garantir um desempenho mais excelente.

O JEM-F200 é configurado com uma arma eletrônica de lançamento de campo Short, ou uma arma eletrônica de lançamento de campo frio*, com um alto brilho e alta estabilidade para melhorar significativamente a eficiência de observação e análise.

Para a arma eletrônica de campo frio, a fonte eletrônica com maior brilho e menor dissipação de energia pode ser obtida, brilho superior a 8x108A / cm2 · sr, dissipação de energia pode ser baixa até 0,3eV, melhor em qualidade de imagem e efeito analítico, mais adequado para análise de EELS de alta resolução de energia em linha, a análise de estado de combinação química refinada da amostra pode ser realizada.

O JEM-F200 apresenta um novo design de foco de quatro níveis para atender a uma variedade cada vez maior de aplicações. Com o apoio deste novo sistema, o foco dos dois primeiros níveis pode controlar o tamanho do feixe e a intensidade do fluxo de feixe, o ponto de cruzamento leste de eletrões que se forma pode ser fixado em uma posição específica e, em seguida, o controle da área de iluminação e do ângulo de convergência é alcançado através do foco dos dois últimos níveis. Além disso, o modo de iluminação paralela, muito importante na imagem em modo TEM, pode ser implementado com a mesma facilidade que o eletroscópio convencional. O uso deste sistema permite obter facilmente imagens de campo claro e campo escuro de alta qualidade.