Eletroscópios de feixe de íons focados da ZEISS Série Crossbeam

Eletroscópios de feixe de íons focados da ZEISS Série CrossbeamDescrição detalhada:

Eletroscópios de feixe de íons focados da ZEISS Série CrossbeamDescubra novos métodos de usinagem FIB - do corte de tamanho grande ao corte de precisão nanométrica:

Aproveite o excelente desempenho do espelho FIB lon-sculptor em baixa tensão para melhorar a qualidade das amostras. A redução do grau de descristalização das amostras de precisão permite obter um excelente efeito de amostra após o polimento diluído, ao mesmo tempo que tem a vantagem de um fluxo de feixe de comutação rápido para acelerar a aplicação de FIB.

Você também pode escolher um excelente desempenho de grande fluxo, o que duplica a velocidade de captura para aplicações 3D FIB-SEM. O processo de captura de imagens é estável para garantir resultados precisos e altamente reprodutíveis. O espelho é projetado para uma faixa de fluxo que abrange cinco níveis de quantidade, de 1pA a 100 nA. Um fluxo de fluxo de até 100 nA permite a remoção rápida e precisa do material e, ao mesmo tempo, o processo de corte é concluído, obtendo uma alta resolução FIB de menos de 3nm em baixos fluxos de fluxo. Ao trabalhar com uma corrente de emissão de 2 μA, as fontes de feixe de íons focados em gálio, ou seja, LMIS (fontes de íons metálicos líquidos), têm uma vida útil convencional superior a 3000 uAh. Com a função de aquecimento automático de fontes de íons, a linha de produtos Crossbeam permite realizar experimentos de duração extremamente longa.