Configuração básica

• Marca e modelo:Keysign é um analisador de rede de 26,5 GHz

Faixa de frequência padrão: 10 MHz a 26,5 GHz

Configuração de portas: suporta várias configurações, incluindo:

2 portas (fonte de sinal única)

4 portas (fonte de sinal dupla) para suporte à medição integrada de dispositivos de equilíbrio e conversor de frequência

Indicadores de desempenho (com base emUniversidade Politécnica de Daliandados do equipamento)

Faixa dinâmica (na porta de teste): ≥ 140 dB (100 MHz - 13,5 GHz)

Direcional: ≥ 48 dB (10 MHz - 26,5 GHz)

Potência de saída: ≥ +19 dBm (10 MHz - 10 GHz)

Ruído de trajetória (amplitude): ≤ 0,00081 dB (100 MHz - 24 GHz)

Ruído de fase (desvio de 10 kHz): ≤ -137 dBc/Hz @ 1 GHz

Capacidade de expansão

Frequência escalável: a opção de suporte expande a frequência para a faixa de onda milimétrica de 60 GHz a 90 GHz.

· Software de aplicação: oferece uma ampla gama de opções de software para suportar medições avançadas como fatores de ruído, compressão de ganho, distorção intermodal, misturador, domínio temporal/impedância (TDR).

Opções de hardware: pode ser equipado com modulador de pulso incorporado, cabeça T de desvio, atenuador de fonte / receptor de sinal, etc., para atender às diferentes necessidades de teste.

Keysign é um analisador de rede de 26,5 GHzPrincipais cenários de aplicação

Com base em suas capacidades poderosas, o N5222B é usado principalmente para:

· Teste de dispositivos ativos / passivos: medir com precisão os parâmetros S, ganhos, perdas, etc. de dispositivos como amplificadores, filtros, antenas, acopladores.

Teste de dispositivos de conversor de frequência: Análise escalar e vetorial completa de misturadores e conversores de frequência.

Análise de integridade do sinal: Especialmente o modelo N5222BT, é uma solução completa com software profissional (PLTS) e acessórios para avaliar a integridade do sinal e o desempenho de impedância de cabos de alta velocidade, placas traseiras, conectores e embalagens BGA.

Análise avançada de características: Medidas precisas de características não lineares como o fator de ruído do componente, o ponto de compressão de ganho (P1dB), o ponto de intersecção de três ordens (TOI) e a frequência de rádio de pulso podem ser realizadas através da opção de software.

· Teste em nível de wafer: pode conectar a sonda para medição e modelagem de parâmetros em nível de wafer de chips semicondutores, dispositivos MEMS, etc.