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Shenzhen Tianrui Instrument Co., Ltd
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Solução única para medição de espessura de revestimento em fábricas de galvanização

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Espessura de ouro adivinhar? EDXTHICK800 com precisão até 0,005 μm, espessura verdadeira e falsa! $r$n não danificar jóias, microzona posicionamento preciso, K ouro / chapado em ouro / chapado em prata com um clique medir a espessura + medir a composição! O negócio de jóias é longo, o teste de qualidade não pode ser menos, o EDXTHICK800 ajuda você a bloquear os clientes de volta! Os clientes $r$n querem certificados? EDXTHICK800 segundos de dados, profissionalidade direta!

Detalhes do produto

  • Fábrica de galvanização / Fábrica de hardware / Joielheiros, desafios de medição de espessura para o EDXTHICK800, economize e economize dinheiro!

  • Precisão insuficiente e eficiência insuficiente? EDXTHICK800 Solução única, solução de mensagens privadas!

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O EDXTHICK800Foi lançado pela Skyray Instruments.Medidor de espessura de revestimento por fluorescência de raios X (XRF) totalmente automático e de alta precisãoProjetado para testes de precisão industriais,Teste de espessura de membrana, análise de componentes, teste RoHSEm um só, é o principal equipamento de inspeção de qualidade para as indústrias de galvanização, eletrônica, jóias e hardware.

Posicionamento e princípios centrais

  • Tipo de equipamentoEspectrómetro de fluorescência X de dispersão de energia (XRF)

  • Princípio de mediçãoUsando raios X para estimular a superfície da amostra, analisando a energia e a intensidade dos raios fluorescentes,Sem danosCálculo da espessura do revestimento e da composição dos elementos

  • Vantagens principais:Precisão a nível de mícrons, posicionamento totalmente automático, análise sincronizada de várias camadas, uso múltiplo de uma máquina

Parâmetros técnicos principais

  • Elementos de mediçãoAnálise de componentes (Al alumínio - U urânio); Análise de revestimento (Li-Li-U)

  • Capacidade de revestimento:Analisar simultaneamente ≥5 camadas de revestimento、24 elementos

  • Gama de espessura:0,005μm ~ 50μm(Revestimento ultrafino até normal)

  • Velocidade de detecção:5-40 segundos / exemplo(Normalmente 10 segundos)

  • Detectores:Detector de semicondutores Fast-SDD(Resolução 140±5eV)

  • Fonte de luz X:Tubo de foco W de alta potência 100W

  • RectificadorΦ0.1/0.2/0.3mm, etc.Mancha mínima 0.1mm)

  • Banco de amostras:Plataforma 3D totalmente automática XYZ(X e Y) 行程 100 milímetros x 100 milímetros)

  • Sistema de localização:Posicionamento a laser duplo + visão CCD(Ampliação de 25 a 200 vezes)

  • Design de segurança:Proteção contra colisão dupla(Máquina + Laser)

  • Tamanho do instrumento: 485 × 588 × 505 milímetros

Funções principais

  1. Medição precisa da espessura do revestimento de camadas múltiplas

    • SincronizaçãoOuro, prata, níquel, cobre, paládio, zincoRevestimento de camada única / camada múltipla / liga

    • ResoluçãoBuracos profundos, buracos cegos, peças estranhas, peças pequenasProblemas de medição de espessura (por exemplo, terminais de PCB, conectores)

  2. Análise de ingredientes e elementos perigosos

    • Medição de MetaisPureza, Composição da liga(K ouro, platina, paládio, etc.)

    • Examinação sincronizadaRoHS(chumbo, mercúrio, cádmio, cromo hexavalente, etc.)