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Suzhou Jingtong Instrumentos Co., Ltd.
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Microscópio de força atómica de controle ambiental Oxford Instruments Cypher ES

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Visão geral

Dica do usuário: devido a várias atualizações e atualizações de recursos do produto

Detalhes do produto

Citação do microscópio de Jingtong:

Como o produto foi atualizado e atualizado várias vezes, não podemos garantir que as imagens e os parâmetros fornecidos pelo Microscópio de Força Atômica de Controle Ambiental Cypher ES da Oxford Instruments estejam atualizados, recomendamos que você entre em contato com nossos engenheiros on-line para você clicando aqui, enquanto também estamos bem-vindos a você para consultar por telefone:!

Microscópio de força atómica de controle ambiental Cypher ES

Cypher com controle ambiental completo

O Oxford Instrumental Atomic Force Microscope Cypher ES é baseado no excelente desempenho do Cypher S, adicionando um conjunto completo de funções de controle ambiental. Embora as características de alta resolução, velocidade e estabilidade sejam semelhantes, o Cypher ES torna a operação muito fácil, seja em ambientes de gás ou líquidos, com temperaturas de 0 a 250 ° C ou em alguns dos ambientes químicos mais irritantes. O Cypher ES é o AFM definitivo para atender aos requisitos de teste mais exigentes.

O controle ambiental facilita a operação
  • Com o mesmo desempenho excelente do Cypher S
  • Perfusão de gases e líquidos através de unidades seladas
  • Temperatura da amostra pode ser controlada entre 0 e 250°C
  • Altamente compatível com substâncias químicas irritantes
  • Cientistas e engenheiros especializados oferecem ajuda rápida e detalhada

Cypher ES inclui modo de trabalho

  • Modo de contato
  • DART ™ Modulação de frequência de pulso
  • Modo de imagem de alta harmonia (Dual AC) ™)
  • Modo piezoelétrico de rastreamento de ressonância de dupla frequência (DART)
  • Microtecnologia de potência estática (EFM)
  • Imagem líquida
  • Modo de curva de força
  • Modo de mapeamento de força (modo de matriz de curva de força)
  • Modo de modulação de força
  • Modo modulador
  • Microscópio de força de sonda Kelvin (KPFM)
  • Modo de força lateral (LFM)
  • Modo recto de ângulo de perda
  • Melhoria do modo de modulação de frequência (MFM)
  • MicroAngelo ™ (Nanolitografia / Nanomanipulação)
  • Modo de imagem em fase
  • Modo de microscópio de resposta piezoelétrica (PFM)
  • Interruptor espectral PFM
  • Modo de toque (modo AC)
  • Modo de toque (modo AC) com controlador Q
  • PFM vetorial

Cypher ES com módulo laser

MultiLux ™ Laser Modules

Cypher offers four Laser Modules, one of which is included with initial system purchase. It is possible to add any of the following additional laser modules to enhance the capabilities of the Cypher:

  • Standard Laser Module:RF-modulated laser diode light source module with nominal 10 µm x 30 µm focused spot size. Recommended for all AC-mode imaging. (Model LD-STD)
  • Small Spot Laser Module:RF-modulated laser diode light source module with nominal 3 µm x 9 µ m focused spot size. Recommended for all AC-mode imaging with small cantilevers. (Model LD-SS)
  • Standard SLD Module:Superluminescent Diode (SLD) light source with nominal 10 µm x 30 µ m focused spot size. Recommended for all contact mode and force measurements. (Model SLD-STD)
  • Small Spot SLD Module:SLD light source with nominal 3 µm x 9 µ m focused spot size. Recommended for contact mode and force measurements using small cantilevers. (Model SLD-SS)