Microscópio de Força Atômica de Pesquisa Científica (FM-Nanoview R-AFM), um AFM de nível de pesquisa científica de alto desempenho e alto custo-benefício.
Características do produto:
◆AFM de pesquisa científica de alto desempenho e custo-benefício
◆Suporta vários modos de trabalho e extensões de módulos funcionais para a grande maioria das aplicações de pesquisa científica básica
◆Design estrutural aberto para opções de funções mais personalizadas
◆Scanner de cerâmica elétrica de anel fechado independente de três eixos XYZ, permitindo simultaneamente medições de localização de alta precisão e varredura de alta resolução
◆A medição de varredura de cerâmica de anel fechado não requer correção não linear e a precisão da nanocaracterização e medição é superior à99.5%
Parâmetros técnicos:
Escala de digitalização |
XYcírculo fechado100 * 100um,Zcírculo fechado10 um |
Nível de ruído do sistema |
RMS≤30 pm |
Resolução de digitalização |
XYcírculo fechado0,2 nm,Zcírculo fechado0,04 nm |
Ponto de amostragem de imagens |
Maior4096*4096 |
Velocidade de digitalização |
0.1O Hz ~ 100O Hz |
Modo de amortiguação |
Montagem de amortiguação flutuante ou ativa |
Imagem padrãoModo |
Modo de contato, modo de toque, imagem em fase,LadoModo de Força (O LFM) |
Modo de medição mecânica |
F-Zcurva de força,RMS-Zcurva,Imagem espectral avançada、MecânicaMapeamentoMedição |
Modo de medição elétrica |
Modo elétrico estático (EFM)Condutores elétricos力padrão (O C-AFMModelo de força de sonda Kelvin (KPFMModo de pressão elétrica (PFM)Modo de resistência de varredura (SSRMModo de Capacitação (SCM) |
Modo de medição magnética |
Modo magnético (MFM), eCampo magnético modulado |
Função de nanogravura |
Gravação mecânica, Gravação elétrica |
Função de controle ambiental |
líquidoImagensModo de controle de atmosfera fechada (Especiaisgás),Modo de controle de temperatura integrado (-20℃~200℃)、Modo de medição eletroquímica |
Funções de auxílio óptico |
Microscópio adaptável、Microscópio de fase metálica、Biomicroscópio Inverso |