Bem-vindo cliente!

Associação

Ajuda

Suzhou Feishiman Precision Instrument Co., Ltd
Fabricante personalizado

Produtos principais:

instrumentb2b>Produtos

Suzhou Feishiman Precision Instrument Co., Ltd

  • E-mail

    huangjin@fsm-sz.cn

  • Telefone

    18934598975

  • Endereço

    Jingdong, Wuzhong Distrito, Suzhou. Taihu Parque Industrial de Manufatura Inteligente (Longshan South Road No. 7) 3A # 401-402

Contato Agora

Microscópio de força atômica de pesquisa científica

Modelo
Natureza do fabricante
Produtores
Categoria do produto
Local de origem

Visão geral

Microscópio de Força Atômica de Pesquisa Científica (FM-Nanoview R-AFM), um AFM de nível de pesquisa científica de alto desempenho e alto custo-benefício.

Detalhes do produto

Características do produto:


◆AFM de pesquisa científica de alto desempenho e custo-benefício

◆Suporta vários modos de trabalho e extensões de módulos funcionais para a grande maioria das aplicações de pesquisa científica básica

◆Design estrutural aberto para opções de funções mais personalizadas

◆Scanner de cerâmica elétrica de anel fechado independente de três eixos XYZ, permitindo simultaneamente medições de localização de alta precisão e varredura de alta resolução

◆A medição de varredura de cerâmica de anel fechado não requer correção não linear e a precisão da nanocaracterização e medição é superior à99.5%


Parâmetros técnicos:

Escala de digitalização

XYcírculo fechado100 * 100um,Zcírculo fechado10 um

Nível de ruído do sistema

RMS≤30 pm

Resolução de digitalização

XYcírculo fechado0,2 nm,Zcírculo fechado0,04 nm

Ponto de amostragem de imagens

Maior4096*4096

Velocidade de digitalização

0.1O Hz ~ 100O Hz

Modo de amortiguação

Montagem de amortiguação flutuante ou ativa

Imagem padrãoModo

Modo de contato, modo de toque, imagem em fase,LadoModo de Força (O LFM)

Modo de medição mecânica

F-Zcurva de força,RMS-Zcurva,Imagem espectral avançada、MecânicaMapeamentoMedição

Modo de medição elétrica

Modo elétrico estático (EFM)Condutores elétricos力padrão (O C-AFMModelo de força de sonda Kelvin (KPFMModo de pressão elétrica (PFM)Modo de resistência de varredura (SSRMModo de Capacitação (SCM)

Modo de medição magnética

Modo magnético (MFM), eCampo magnético modulado

Função de nanogravura

Gravação mecânica, Gravação elétrica

Função de controle ambiental

líquidoImagensModo de controle de atmosfera fechada (Especiaisgás),Modo de controle de temperatura integrado (-20℃~200℃)、Modo de medição eletroquímica

Funções de auxílio óptico

Microscópio adaptável、Microscópio de fase metálica、Biomicroscópio Inverso