Analisador de parâmetros de semicondutores SA8000

Analisador de parâmetros de semicondutores SA8000Apresentação:

O Analisador de Parâmetros de Dispositivos Semicondutores é um instrumento de teste de processo usado para testar o desempenho elétrico de dispositivos semicondutores. Suporta a corrente.-Tensão (IV(Capacitação)-Tensão (CV(O pulso)/DinâmicaIVEssas características são equipamentos-chave para o desenvolvimento, fabricação e controle de qualidade de semicondutores. Esses instrumentos geralmente têm um design modular que permite que os usuários configurem os módulos funcionais com flexibilidade de acordo com as necessidades de teste e estão equipados com software dedicado e uma interface de tela táctil para simplificar o processo operacional. capacidade de medição de alta precisão (comoFãnível de corrente,µVResolução de tensão de nível) é adequado para uma ampla gama de necessidades de caracterização, desde o dispositivo básico até o processo, em semicondutores, eletrônica de consumo, eletrônica automotiva e muitas outras áreas.

Com a inovação de arquitetura autônoma e controlada, o espaço de aplicação em escala de equipamentos domésticos foi aberto. Baseado na arquitetura PXIe totalmente autônoma e com suporte para até 18 módulos ao mesmo tempo, o produto oferece a flexibilidade de combinar unidades de medição de pulso IV, CV e rápida de corrente contínua com um ônibus de alta velocidade e gerenciamento de acionamento sincronizado unificado para testes de precisão e sinergia em vários módulos sem alternar repetidamente entre vários instrumentos, melhorando significativamente a eficiência do teste e a consistência dos dados. Sua capacidade de medição principal atinge uma resolução de corrente de 0,1 fA, capturando de forma estável sinais ultrafracos de dispositivos como memórias, pontos quânticos e outros; Ao mesmo tempo, equipado com o modo de teste rápido sem programação, suporte ao algoritmo de teste de dispositivos personalizados Python, que equilibra a facilidade de uso e flexibilidade, atualmente entrou na lista de compras de universidades domésticas como a Universidade de Fudan, Tsinghua University, em materiais 2D,Cálculo neuromorfológicoOutras áreas de pesquisa de ponta realizaram aplicações terrestres.

Parâmetros de desempenho principais

Capacidade de medição de corrente: resolução de corrente ultra-alta de 0,1 fA (10-16 A), captura estável de sinais ultra-fracos de dispositivos como memórias, pontos quânticos e outros

Arquitetura de hardware: baseada na arquitetura PXIe, com suporte para até 18 módulos ao mesmo tempo, com comunicação de ônibus de alta velocidade + gerenciamento de acionamento sincronizado unificado, sem mudança de vários instrumentos

Cobertura de teste: combinação flexível de unidades de medição de pulso IV, CV e rápido de corrente contínua para vários instrumentos PXIe

Capacidade do software:

Modo de teste rápido sem programação (três modos de teste clássico / teste aplicativo / teste em série)

Suporte para algoritmos de teste de dispositivos personalizados programados em Python, desenvolvimento secundário aberto

Vantagens do produto
Detecção de corrente fraca
Com base nos anos de acumulação tecnológica no campo dos medidores de origem, o SA8000 alcançou uma resolução de medição de corrente de 0,1 fA (10-16 A), capturando de forma estável sinais ultra-fracos de dispositivos como memórias, pontos quânticos e outros, fornecendo capacidade de medição de sinais fracos confiável para explorações de ponta.

Capacidade de teste multidimensional totalmente integrada
O sistema é baseado na arquitetura PXIe e suporta até 18 módulos ao mesmo tempo, permitindo a flexibilidade de combinar unidades de medição de pulso IV, CV e rápida de corrente contínua. A comunicação de ônibus de alta velocidade e o gerenciamento unificado de disparos sincronizados permitem adaptar-se a vários instrumentos PXIe. Sem a necessidade de alternar repetidamente entre vários instrumentos, melhora significativamente a eficiência dos testes e a consistência dos dados.

Modo de teste rápido sem programação
Modo de teste clássico: suporta uma configuração flexível e variada de parâmetros para atender às necessidades de vários cenários de teste; Modo de teste de aplicação: opção de vários algoritmos de dispositivo pré-configurados para testar rapidamente as curvas de características do dispositivo ou parâmetros-chave; Modo de teste em sequência: suporta a execução automática de sequências de testes editadas por vários testes clássicos ou aplicativos;

Algoritmos de teste de dispositivos personalizadosOs algoritmos de dispositivo no modo de teste de aplicativos são programados em Python e estão abertos para os clientes personalizarem os algoritmos de teste de dispositivo. Os usuários podem personalizar o processo de teste do dispositivo e o algoritmo de extração de parâmetros de acordo com suas necessidades de pesquisa, melhorando significativamente a flexibilidade do teste e a reprodutividade do algoritmo.

Os principais módulos opcionais são os seguintes:

Aplicações típicas

O SA8000 é amplamente utilizado em vários cenários de desenvolvimento e teste de dispositivos semicondutores, abrangendo dispositivos tradicionais e áreas de pesquisa de ponta:

Aplicações típicas de fronteira:

1. resistor de memória e neuromorfologia de cálculo para a geração de onda incorporada e unidade de medição rápida, largura mínima de pulso de 200ns, pode registrar o processo de impedância em tempo real, fornecendo dados brutos de alta fidelidade para o chip de cálculo cerebroide.
O estudo de materiais bidimensionais e dispositivos quânticos beneficia-se da capacidade de medição de fração de corrente ultra-baixa de 0,1 fA, o SA8000 pode caracterizar com precisão as mudanças de condutividade fraca de materiais bidimensionais (como grafeno, MoS₂), apoiando a pesquisa de mecanismos de trabalho de novos dispositivos, como pontos quânticos.