SRM 1976c Norma de difração de raios-X em pó de óxido de alumínio

SRM 1976c Norma de difração de raios-X em pó de óxido de alumínio Apresentação:

Número NIST: SRM 1976c

Norma de resposta do instrumento para difração de pó de raios X

Nome chinês: padrão de difração de raios-X em pó de óxido de alumínio

Especificações: 1 Disco

Período de validade:

A certificação do SRM 1976c é válida por um período indefinido dentro das incertezas de medição especificadas, desde que o SRM seja processado e armazenado de acordo com as instruções deste certificado (veja "Instruções de armazenamento e uso"). Esta SRM não precisa ser re-certificada periodicamente. A certificação é inválida se o SRM for danificado, contaminado ou modificado de outra forma.

Descrição do material:

O processo de fabricação utilizado para a produção desse SRM foi desenvolvido para a produção de substratos de componentes eletrônicos. O pó de óxido de alumínio usado como precursor destes substratos tem uma alta pureza de fase (estrutura de corundum) e uma forma de partícula em folhas. O diâmetro das plaquetas é geralmente de 5 μm a 10 μm e a espessura é de 2 μm a 3 μm. O processo de compactação do disco produz uma textura de simetria axial, cuja base tende a ser paralela à superfície do disco. Essa simetria axial da textura permite a instalação de amostras em qualquer direção em torno da linha de mesura da superfície. Sinterização líquida com uma pequena quantidade de vidro de pedra longa de cálcio. Não foram detectadas impurezas cristalinas. A fase de vidro envolvida na sinterização líquida evita eficazmente o contato entre as partículas e relaxa durante o processo de resfriamento da peça a partir da temperatura de sinterização. Isso leva a um desenvolvimento mínimo de microdeformações e sua ligação à ampliação da linha espectral; Embora algumas microdeformações podem ser detectadas, como a largura gaussiana dependente de tanθ. Tendo isso em mente, e praticamente sem alargamento do tamanho do grão, o SRM 1976c pode ser usado para obter aproximações da função do perfil do instrumento (IPF). No entanto, o SRM 1976c não é recomendado para análises quantitativas de microestruturas. Os discos que compõem esta matéria-prima SRM são fabricados em uma operação de produção especializada para garantir a consistência da microestrutura em termos de tamanho de partículas, forma, microdeformação e textura.

Utilização do produto:

Esta substância de referência padrão (SRM) é composta por um disco de óxido de alumínio sinterizado para calibrar a posição da linha e a força do dispositivo de difração de raios X em pó, como função do ângulo 2θ. A SRM na forma sólida elimina quaisquer alterações na medição de intensidade introduzidas durante o processo de carga da amostra. Uma unidade do SRM 1976c é composta por um disco de óxido de alumínio sinterizado com cerca de 25,6 mm de diâmetro e cerca de 2,2 mm de espessura.

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Parte da lista de substâncias padrão é a seguinte: