Sistema de teste de dinâmica de semicondutores

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Sistema de teste dinâmico de semicondutores $r$n$r$n Physiochemical oferece soluções individuais e suporte técnico

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Sistema de teste de dinâmica de semicondutores

Para materiais/dispositivos semicondutores (Si/SiC/GaN/orgânicos/perovskites)Dinâmica dos portadores + fotoeletricidade transitória + características dinâmicas dos dispositivos de potênciaplataforma de teste integrada,Instrumentos Físicos e Químicos oferecem soluções exclusivas um-a-um e suporte técnico de ciclo completo。

1. Dinâmica do transportador (grau de material)

Tensão óptica transitória / corrente óptica (TPV / TPC), fluorescência de resolução temporal (TRPL), tempo de voo (TOF) taxa de migração.
Espectroscopia de transiência de nível de energia profunda (DLTS), extração de carga elétrica (CE), carregador de tensão linear (CELIV).
Parâmetros de análise: vida do portador, taxa de migração, comprimento de difusão, densidade de estado de defeito, taxa de composição da interface.

Características dinâmicas do dispositivo de potência (nível de dispositivo)

Teste de pulso duplo (DPT): tempo de ligação/desligação, tempo de subida/descida, perda de interruptor, recuperação inversa.
Rds dinâmicos (on), carga Qg do portão, tolerância ao curto-circuito (SCSOA), teste de degradação do diodo corporal.
Adaptação: MOSFET/IGBT/SiC-MOSFET/GaN-HEMT, cobrindo 600V-10kV, 10A-1kA.

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