Espectrómetro de fluorescência X Spike Parâmetros técnicos XEPOS

Espectrómetro de fluorescência X Spike Parâmetros técnicos XEPOS

A empresa alemã Spike Analytical Instruments desenvolveu uma técnica extremamente bem sucedida para aplicar raios-X polarizados à análise de fluorescência. Assim como os filtros polarizadores são uma ferramenta insubstituível hoje em dia para tirar imagens de alta qualidade, essa técnica analítica tornou-se um meio insubstituível para medir em laboratório a quantidade primária, secundária e de elementos em traço. A Spike Analytical Instruments continuou a desenvolver essa tecnologia e lançou uma nova geração de instrumentos, o espectrômetro de fluorescência de raios X polarizado de mesa SPECTRO XEPOS.
Espectrómetro de fluorescência X Spike Parâmetros técnicos XEPOS

O SPECTRO XEPOS possui componentes de alto desempenho internos que permitem uma boa sensibilidade e precisão. A utilização de um alvo secundário polarizado para garantir uma excitação * óptima, um trocador automático de amostras de 12 bits, pacotes de aplicativos pré-instalados e módulos de software inteligentes tornam o SPECTRO XEPOS um verdadeiro analisador de elementos versátil.

O SPECTRO XEPOS vem com um pacote de aplicações pré-instalado que inclui vários métodos de hardware e análise pré-corrigidos em fábrica. Adequado para análise: solo, lama, aditivos em óleo, cimento, escoria, materiais resistentes ao fogo, teste RoHS de componentes eletrônicos, etc.

O espectrômetro de fluorescência de raios X tipo XEPOS pode ser amplamente utilizado em uma variedade de materiais eletrônicos e plásticos para análise de elementos como chumbo, cádmio e (mercúrio), detecção de limites inferiores baixos, alta sensibilidade e boa estabilidade, pode responder às diretivas europeias de REEE e RoHS.