Espectrómetro de fluorescência de raios X de comprimento de onda

Por mais de 40 anos, o sistema de espectrômetro de raios-X dispersos de comprimento de onda sincrônico Rigaku Simultix (WDXRF) tem sido amplamente utilizado como ferramenta de análise elementar para indústrias que exigem alto rendimento e precisão no controle de processos, como aço e cimento. Quase 1.000 espectrômetros de fluorescência de raios X dispersos de comprimento de onda da Simultix foram entregues a clientes em todo o mundo. Com o progresso tecnológico ao longo dos anos, as exigências dos clientes também se tornaram * e diversificadas.Espectrómetro de fluorescência de raios X de comprimento de ondaO Simultix 15 desenvolvidos para atender a essas necessidades em constante mudança. Oferece melhorias significativas em desempenho, funcionalidade e disponibilidade. Compacto e inteligente, o Simultix 15 é uma poderosa ferramenta de análise elementar que demonstra desempenho em muitas áreas industriais.

Espectrómetro de fluorescência de raios X disperso de comprimento de onda é um instrumento usado para analisar a composição de uma matéria. Ele analisa a radiação fluorescente característica gerada pela interação dos raios-X com a matéria. Aqui estão os pontos principais do espectrômetro:

Princípio básico: Medir a intensidade da radiação fluorescente desses diferentes comprimentos de onda através da difusão de raios X entrantes em diferentes comprimentos de onda através da difração de cristal. Cada elemento tem seus comprimentos de onda específicos de radiação fluorescente, e a medição desses comprimentos de onda permite determinar a presença de diferentes elementos na amostra e seu conteúdo relativo.

Composição do instrumento: o espectrômetro típico de fluorescência de raios X de comprimento de onda disperso inclui fontes de raios X, suportes de amostras, difractores de cristais, detectores e sistemas de processamento de dados. As fontes de raios-X produzem raios-X de alta energia, as amostras são colocadas em suportes para análise, os difractores de cristal são usados ​​para dispersar os raios-X entrantes, enquanto os detectores são usados ​​para medir a intensidade da radiação fluorescente e transmitir os dados para o sistema de processamento de dados para análise e interpretação.

Aplicações analíticas:Espectrómetro de fluorescência de raios X de comprimento de ondaO Simultix 15Amplamente utilizado em ciência de materiais, geologia, monitoramento ambiental, análise de metais e outras áreas. Determina a composição elementar de uma amostra de forma rápida e não destrutiva, com alta sensibilidade e ampla gama de medição.

Vantagens e limitações: Vantagens de alta resolução, precisão e reprodutividade. No entanto, ele pode ser limitado pela interferência de fundo na detecção de elementos de baixas concentrações e tem uma capacidade analítica relativamente fraca para elementos muito leves, como hidrogênio e lítio.

Em suma, o espectrômetro de fluorescência de raios-X disperso de comprimento de onda é uma ferramenta analítica importante para determinar rapidamente e com precisão a composição elementar de uma matéria e desempenha um papel em muitas áreas científicas e industriais.

XRF para análise elementar rápida e precisa

Análise de berílio (Be) a urânio (U) em quase qualquer matriz de amostra. Os indicadores mais importantes do controle de processo de automação são a precisão, a precisão e o rendimento da amostra. Com até 30 (e opcionalmente 40) canais de elementos discretos e otimizados e potência de tubo de raios-X de 4kW (ou opcionalmente 3kW), a velocidade e a sensibilidade de análise podem ser oferecidas. Combinado com um software poderoso, mas fácil de usar, com uma ampla gama de recursos de simplificação de dados e funções de manutenção, este instrumento é a ferramenta de medição de análise elementar.

Análise automática de elementos XRF

Para aplicações de alto rendimento, a automação é um requisito fundamental. Pode ser equipado com um amostrador automático de 48 bits (ASC). Para a automação total, as unidades de carga de amostras opcionais fornecem alimentação do lado direito ou esquerdo da cinta transportadora de um sistema de automação de preparação de amostras de terceiros.

Análise elementar através da sincronização do WDXRF

Características

síntese de camadas múltiplas, RX-SERIES

O novo cristal sintético multicamada “RX85” produz cerca de 30% mais força do que os cristais multicamada Be-Ka e B-Ka existentes.

Canal XRD

O Simultix 15 é equipado com um canal XRD para análises quantitativas através de XRF e XRD.

Cristal duplo

Os cristais bifaciais opcionais podem ser equipados com canais fixos. Em comparação com os cristais de superfície única, a força dos cristais de superfície dupla aumenta.

Software melhorado fácil de usar

O software Simultix 15 usa as mesmas barras de processo de análise quantitativa do software ZSX para melhorar a operabilidade das configurações de condições quantitativas.

Angulômetros de varredura pesados e leves

O angulómetro opcional de ampla gama de elementos suporta semi-quantificação sem amostragem (FP) para medições qualitativas ou quantitativas de elementos não convencionais.

Medição de BG de oligoelementos

Medição de fundo opcional (BG) de canal fixo para melhorar a precisão da soma de ajuste da calibração.

Controle Automático de Pressão (APC)

O sistema APC opcional mantém um vácuo constante na câmara óptica para melhorar significativamente a precisão da análise de elementos leves.

Comparação de dispersão quantitativa

Quando a comparação de dispersão de Compton é usada para análises de minérios e concentrados, a comparação de dispersão quantitativa opcional gera um alfa teórico para a calibração da relação de dispersão.

Até 40 canais fixos

A configuração padrão de 30 canais fixos oferece a opção de atualizar para 40 canais.

Automação

O dispositivo de carregamento de amostras opcional fornece alimentação de cintas transportadoras de sistemas de automação de preparação de amostras de terceiros.