Espectrómetro fotoeletrônico de raios X EscaLab Xi+

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X EscaLab Xi+Performance analítico:

Qualidade dos elementos da superfície, análise quantitativa

O design do analisador de energia e a combinação de fontes de raios X monocromáticas de microfoco bicristal permitem uma resolução energética

Imagem paralela rápida de alta resolução

Imagem química: Resolução espacial superior a 1um

Espectro retrospectivo: área retrospectiva superior a 6um

● Não é necessário um detector de correção de fundo traseiro

O duplo detector do multiplicador eletrônico e do detector de ánodo de resistência é projetado para atender às necessidades de espectroscopia XPS de alto desempenho e imagens XPS de alta resolução espacial.

A tecnologia inovadora do detector de ánodo de resistência espacial contínuo permite que a resolução de imagem XPI chegue a 1um, ao mesmo tempo que os dados obtidos não possuem características de fundo do detector, sem correção de fundo do detector, obtendo diretamente resultados de imagem de distribuição de elementos quantitativos com resolução em escala de mícrons.

Fonte monocromática de microfoco

Tamanho de análise ajustável continuamente entre 20 μm e 900 μm

Sensibilidade e resolução energética

Fornece não menos de 20 pontos de trabalho de alvo para garantir que o alvo de ánodo não precise ser substituído durante a vida útil do instrumento

● Automação de fontes de análise iônica eficientes

Novos agrupamentos de íons AR combinados com fontes de íons de partícula única tradicionais para análise profunda de vários materiais

Resolução angular de alta precisão XPS

O software controla a análise de posição e ângulo para garantir a precisão e repetibilidade dos dados

Conjunto completo de ferramentas de processamento de dados ARXPS para cálculo de espessura de camada em dispositivos estruturais multicamada em nanoescala

• Compensação de carga de um clique

Equipado com um sistema de neutralização de carga de feixe duplo, pode ser aberto de forma independente de acordo com as necessidades da amostra real.

Neutralização de carga precisa para todas as amostras não condutoras e superfícies rugosas

Forte software de análise Avantage

Controle totalmente digital de instrumentos

Visualização de operações de software do sistema

Biblioteca completa de dados padrão XPS e banco de dados de identificação estrutural de compostos

Captura de dados personalizada para o modo de geração de relatórios

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X EscaLab Xi+Fácil de operar:

• Alta automatização

Resolução de área e ângulo de análise opcional

Regulação automática de gás e controle de vácuo

Calibração a qualquer momento

Calibração de medidores de energia e funções instrumentais

Posicionamento da arma de íons e foco do feixe de íons

● Navegação de amostras com clique do mouse

Localização de análise em tempo real

Alta intensidade de iluminação, intensidade ajustável

Espectrómetro fotoeletrônico de raios X EscaLab Xi+Design flexível

ISS, ARXPS e REELS como padrão

● Sala de amostragem multifuncional em configuração padrão

UPS e EDS / AES / SEM / SAM / Opcional

● Acessórios opcionais para pré-tratamento de amostras, incluindo:

Mesa de preparação de amostras, limpador de cristal, raspador de amostras

Instalação de aquecimento/arrefecimento da amostra

Pistola de íons de limpeza por pulverização

Evaporador

Câmara de Reação de Alta Pressão