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Pequim Yake Chenxu Tecnologia Co., Ltd.
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Profilômetro 3D de raios X XRT

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Visão geral

O novo Delta-X da Jordan Valley é um dispositivo de difração de raios-X versátil para aplicações flexíveis em pesquisa científica de materiais, desenvolvimento de processos e controle de qualidade de produção. Os componentes ópticos do banco de fonte de luz e do banco de detecção do difractor Delta-X podem ser regulados totalmente automatizados com um banco de amostragem horizontal. O Delta-X pode alternar flexibilmente entre o modo de difração convencional, o modo de difração de alta resolução e o modo de reflexão de raios-X. A comutação da configuração óptica* é realizada pelo computador sob o controle de um programa de menu, sem necessidade de operação manual. Automação de comutação e rectificação não requer pessoal especializado e manobra

Detalhes do produto

Introdução

Empresa Jordan ValleyNovo design.O Delta-X é um dispositivo de difração de raios-X versátil para aplicações flexíveis em pesquisa científica de materiais, desenvolvimento de processos e controle de qualidade de produção. Os componentes ópticos da base de luz e da base de detecção do difractor Delta-X podemRegulação automatizada e uso de mesas de amostragem horizontais.O Delta-X pode alternar flexibilmente entre o modo de difração convencional, o modo de difração de alta resolução e o modo de reflexão de raios-X. Conmutação da configuração ópticaÉ feito pelo computador sob o controle de um programa de menu, sem necessidade de operação manual. Automação de mudanças e precisão sem necessidade de pessoal especializado e equipamento operacional, e garantir que cada mudança seja bem realizadaestado óptico recto.

As medições de amostras regulares podem passarDifração Delta-X, parcial ou completaCom operações automatizadas, os procedimentos de medição automatizados podem ser personalizados de acordo com as necessidades do cliente. Também pode ser usadoOperação em modo manualDelta-X Diffractor para desenvolver novos métodos de medição e estudar novos sistemas de materiais.

A análise ou adaptação de dados pode ser realizada como parte de um processo de medição.A automação também permite a análise de dados separadamente, conforme necessário. De acordo com as necessidades da linha de produção de semicondutores,O software de adaptação RADS e REFS é executado em modo de automação, permitindo que a análise de dados rotineira seja automatizada sem interferência do usuário e que a adaptação de dados e a saída dos resultados sejam concluídas diretamente. RADS e REFS também podem ser instalados separadamente para uma análise de dados mais detalhada.

O Delta-X Diffractor atende aos institutos de ciência e tecnologia

Centro de Desenvolvimento Artístico
Sistemas de materiais diferentesTeste de orientação

necessidades.

Principais características e vantagens do Delta-X

nAutomate a precisão de amostras, testes e análise de dados

nOs clientes podem definir o grau de automatização das medições

nSuporte de anel Euleriano de 300 mm Cradle) design, localização e digitalização de amostras de alta precisão

n300 milímetrosO chip é colocado horizontalmente e pode ser completo.mapeamento

n100º de ChiGama de inclinação do eixo, gama ilimitadaEspaço de rotação do eixo Phi para mapas polares e testes de tensão residual

nConfiguração óptica inteligente de comutação e rectificação. Selecção automática da configuração óptica e implementação da rectificação óptica de acordo com as necessidades de medição

nIndústriaPrimeiro.Software de controle de dispositivos e software de análise de dados

nAngulômetro de alta resolução para medições precisas e precisas

nDesign de mesa de luz de alta intensidade e combinação de componentes ópticos para medições rápidas

nAmpla gama de técnicas de teste e parâmetros de medição

npor possuir mais de30Alta resolução do anoExperiência em difração de raios XmundoJieEspecialista em design, fabricação eExperiência do cliente da bola.


Características e vantagens do Delta-X Diffractor

Sistema óptico de controle automatizado:

O feixe de entrada do difractor Delta-X inclui vários modos de configuração óptica padrão para que a configuração óptica seja totalmente flexível e fácil de operar. Os cristais de referência podem ser selecionados de acordo com o tipo de material da amostra de medição.

nModo padrão: para todos os sistemas, feixe paralelo com alta reflexão de camadas múltiplas

nOutros quatro sistemas ópticos podem ser selecionados e instalados:

nBragg-BrentanoEspelho (Componente óptico Johannson)

nBragg-BrentanoEspelho (Componente óptico de Johannson) e um cristal de referência (reflexo secundário)

nDois cristais de referência separados(Reflexão secundária): o tipo de material e a resolução dos cristais de referência estão disponíveis em vários projetos para fornecer e medir resolução correspondente.

nDois cristais de referência paraInstalação do modo Bartels

nAlternação automática entre cristais de referência e espelhos elevados

nNão é necessário mover os cristais de referência e os espelhos elevados manualmente do difractor para garantir que os componentes ópticos não sejam danificados ou desviados do estado recto.

nA precisão inicial do difractor é fácil de operar, Confiável, sem necessidade de ligar no dispositivooperação de raios X.