XRD / diffractor de raios X / estação de aquecimento ultra-alta temperatura de estiramento in situ XH1200

Dispositivo in situ projetado especificamente para o analisador de difração de raios X, que controla com precisão a resposta em tempo real do material sob condições de acoplamento de vários campos, como mudança de temperatura, carga mecânica e outros, pode ser adaptado com precisão aos principais equipamentos de XRD da Brooke, Seymour Fly, Science, Shimazu e outros.

Instrumento de fruta XH1200:Intervalo de temperatura RT ~ 1200 ° C, estabilidade de temperatura 0,1 ° C, pode alcançar o ponto fixo, inclinação, controle de temperatura de precisão multimodo do processo.

Reflexão/transmissão do suporte de amostras opcional; Projeto de janela circular arco, ângulo de difração 2θ: Â0 ° ~ 164 °, usando a membrana Kapton como janela;

Suporte customizável para vários modelos de difractores de raios-X, como Science, Brooke, Seymour Fly, Shimazu, Panaco, etc.

Estação de aquecimento frio XRD XH1200Características:

• Faixa de temperatura: -190 ℃ ~ 600 ℃

• Estabilidade de temperatura: ± 0,1 ℃

• Ángulo de difração 2θ: ° 0 a 164°

Material da janela: Kapton

• Câmara atmosférica para a atualização do vácuo

• Tampa superior substituível para uso como estação de aquecimento frio normal

Estação de aquecimento frio XRD XH1200parâmetro：