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E-mail
info.microscopy.cn@zeiss.com
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Telefone
13761758023
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Endereço
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Categorias do produto
Carl Zeiss (Shanghai) Gestão Co., Ltd.
Eletroscópio de feixe duplo Crossbeam 550 Samplefab
NegociávelAtualização em01/19
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
O Crossbeam 550 Samplefab, um microscópio elétrico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) desenvolvido especialmente para a preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores, oferece excelente flexibilidade, funcionalidades de automação e design fácil de usar para facilitar e tornar mais eficiente a preparação de amostras na indústria de semicondutores.
Detalhes do produto
Eletroscópio de feixe duplo ZEISSFaixa cruzada 550 Samplefab
[Perfil do produto]
Eletroscópio de feixe duplo ZEISSFaixa cruzada 550 Samplefab，Como um microscópio elétrico de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) desenvolvido especificamente para a preparação de amostras TEM na indústria de semicondutores, oferece excelente flexibilidade, recursos de automação e design fácil de usar para ajudar a preparação de amostras na indústria de semicondutores a ser mais fácil e eficiente.
[Características do produto]
l Interface de software padrão da indústria
l Configurações otimizadas para melhorar a estabilidade do dispositivo e do software
l Totalmente automáticoTEMExperiência de preparação de amostras
l Localização (in-situ, levantamento(e não local)ex-situ, recolhaDisponível flexível
l Amostragem automática e manual de alta qualidade
[Área de aplicação]
Indústria de eletrônica e semicondutores, análise de falhas eTEMPreparação de amostras.
[Caso de aplicação]
Utilização totalmente automática no local (ex-situ, recolha(e local)in-situ, levantamento(Modelagem) TEMamostras finas
Finalmente diminuído manualmente7nmProcessador de processo, planoTEMFolha fina
UtilizaçãoFeixa cruzadaDentroSTEMFotografia do detector
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