Microscópio de materiais ZEISS

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Os princípios do microscópio de materiais da ZEISS baseiam-se principalmente na microscopia óptica e na microscopia eletrônica. O microscópio óptico amplia a amostra através da refração e reflexão da luz, enquanto o microscópio eletrônico usa um feixe de elétrons em vez do feixe de luz, proporcionando uma resolução maior e imagens detalhadas da amostra.

Detalhes do produto

Microscópio de materiais ZEISSOs princípios são baseados principalmente em microscopia óptica e microscopia eletrônica. O microscópio óptico amplia a amostra através da refração e reflexão da luz, enquanto o microscópio eletrônico usa um feixe de elétrons em vez do feixe de luz, proporcionando uma resolução maior e imagens detalhadas da amostra. Os princípios básicos do microscópio óptico incluem focar a luz através do sistema de lentes para formar imagens ampliadas; O microscópio eletrônico usa um feixe de eletrões para escanear amostras e coletar sinais eletrônicos secundários para formar imagens de alta resolução. Estes microscópios combinam design óptico avançado e tecnologia eletrônica para estudar mais profundamente a microestrutura do material.

Características do microscópio de materiais ZEISS:

Combinação de microscopia óptica e imagem confocal

A plataforma de co-foco LSM LSM900 foi desenvolvida para aplicações de materiais exigentes em 2D e 3D.

Você pode usar imagens confocais sem contato para caracterizar as características morfológicas da amostra e avaliar a rugosidade da superfície

Determine a espessura do revestimento e da película de forma não destrutiva

Você pode usar uma variedade de métodos de imagem, incluindo polarização e microimagem fluorescente em modo óptico ou confocal

Caracterize amostras de fase de ouro sob a luz refletida e amostras de folhas finas de rochas ou polímeros sob a luz transmitida.

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