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Categorias do produto
Pequim Keriyong Tecnologia Co., Ltd.
Microscópio eletrônico de fio de tungstênio ZEISS
NegociávelAtualização em02/03
- Modelo
- Natureza do fabricante
- Produtores
- Categoria do produto
- Local de origem
Visão geral
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio ZEISS é um microscópio eletrônico de alta resolução dedicado à observação de estruturas finas. O microscópio eletrônico de fio de tungstênio geralmente se refere ao microscópio eletrônico de varredura (SEM) ou microscópio eletrônico de transmissão (TEM) que usa fio de tungstênio como fonte de eletrônicos.
Detalhes do produto
Microscópio eletrônico de fio de tungstênio ZEISSÉ um microscópio eletrônico de alta resolução dedicado à observação de estruturas finas. O microscópio eletrônico de fio de tungstênio geralmente se refere ao microscópio eletrônico de varredura (SEM) ou microscópio eletrônico de transmissão (TEM) que usa fio de tungstênio como fonte de eletrônicos. Como fabricante de microscópios, o microscópio eletrônico de fio de tungstênio da ZEISS possui muitas características avançadas. Aqui estão alguns pontos chave:
Fonte eletrônica de fio de tungstênio
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio usa fio de tungstênio como fonte de emissão de eletrônicos. Os fios de tungstênio são capazes de emitir eletrões de alta energia em alta tensão, que são usados para digitalizar a superfície da amostra ou penetrar a amostra para gerar imagens.
2. Alta resolução
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio pode fornecer alta resolução até o nível nanométrico. Isso lhes permite observar microestruturas, nanomateriais, defeitos microscópicos e muito mais no interior da célula.
3. Modelo de imagem
Microscópio eletrônico de varredura (SEM): gerar imagens tridimensionais da superfície da amostra varrendo a superfície da amostra e detectando eletrões refletidos. Aplicável à observação das características morfológicas e superficiais das amostras.
Microscópio eletrônico de transmissão (TEM): um feixe de elétrons penetra na amostra e forma imagens através da estrutura dentro da amostra. É adequado para observar a estrutura interna de uma amostra, como a estrutura cristalina de órgãos celulares e materiais.
Vantagens técnicas da ZEISS
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio da ZEISS pode incluir as seguintes características técnicas:
Feixe de eletrões de alta estabilidade e qualidade: garante a qualidade e a resolução da imagem.
Tecnologias avançadas de processamento de amostras e imagens: por exemplo, foco automático, software de captura de imagens e análise de imagens.
Vários modos de observação de amostras: suporta diferentes técnicas de observação e análise, como imagem eletrônica de dispersão posterior, imagem eletrônica secundária, etc.
Fonte eletrônica de fio de tungstênio
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio usa fio de tungstênio como fonte de emissão de eletrônicos. Os fios de tungstênio são capazes de emitir eletrões de alta energia em alta tensão, que são usados para digitalizar a superfície da amostra ou penetrar a amostra para gerar imagens.
2. Alta resolução
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio pode fornecer alta resolução até o nível nanométrico. Isso lhes permite observar microestruturas, nanomateriais, defeitos microscópicos e muito mais no interior da célula.
3. Modelo de imagem
Microscópio eletrônico de varredura (SEM): gerar imagens tridimensionais da superfície da amostra varrendo a superfície da amostra e detectando eletrões refletidos. Aplicável à observação das características morfológicas e superficiais das amostras.
Microscópio eletrônico de transmissão (TEM): um feixe de elétrons penetra na amostra e forma imagens através da estrutura dentro da amostra. É adequado para observar a estrutura interna de uma amostra, como a estrutura cristalina de órgãos celulares e materiais.
Vantagens técnicas da ZEISS
O microscópio eletrônico de fio de tungstênio da ZEISS pode incluir as seguintes características técnicas:
Feixe de eletrões de alta estabilidade e qualidade: garante a qualidade e a resolução da imagem.
Tecnologias avançadas de processamento de amostras e imagens: por exemplo, foco automático, software de captura de imagens e análise de imagens.
Vários modos de observação de amostras: suporta diferentes técnicas de observação e análise, como imagem eletrônica de dispersão posterior, imagem eletrônica secundária, etc.
