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Guangdong Sende Instrumentos Co., Ltd.
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Microscópio eletrônico de varredura

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Microscópio eletrônico de varredura de lançamento em campo da série Zeiss Sigma FE-SEM com imagem de alta qualidade e microanálise avançada
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Microscópio eletrônico de varredura

Imagem de alta qualidade e diferenciação avançadaFuncionalidade analítica FE-SEM

Coleção de produtos ZEISS SigmaCampoMicroscópio eletrônico de varredura de lançamentoA tecnologia (FE-SEM) combinada com uma boa experiência do usuário facilita a realização de procedimentos de imagem e análise para aumentar a produtividade. Você pode usá-lo para o monitoramento de qualidade de novos materiais e partículas ou para a pesquisa de amostras biológicas e geológicas. Excelência em imagens de alta resolução - com baixa tensão, obtenha uma melhor resolução e revestimento a 1 kV ou menos. Seu excelente design geométrico EDS permite realizar microanálises avançadas para obter dados analíticos com o dobro da velocidade e precisão.

·Sigma 360É uma imagem e análise intuitivas.O FE-SEMIdeal para plataformas de teste analítico.

O Sigma 560 é projetado com geometria EDS* para fornecer análises de alto fluxo e experimentações in situ automáticas.

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Sistema óptico do Gemini 1

O sistema óptico do Gemini 1 é composto por três componentes: uma lente, um propulsor de feixe de elétrons e um detector com o princípio de detecção Inlens. O projeto da lente combina o campo elétrico estático com a força do campo magnético, otimizando significativamente o desempenho óptico e reduzindo o impacto do campo na amostra. Isso também permite imagens de alta qualidade para amostras desafiadoras, como materiais magnéticos. O princípio de detecção Inlens garante uma detecção eficiente de sinais através da detecção de eletrões secundários (SE) e / ou eletrões de retrodispersão (BSE), reduzindo significativamente o tempo para obter imagens. O propulsor de feixe de eletrônicos garante uma pequena placa de feixe de eletrônicos e uma alta relação sinal-ruído.

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Detecção flexível

A Sigma vem equipada com uma variedade de detectores diferentes para caracterizar suas amostras com novas tecnologias de detecção. Os modelos de alto vácuo dos detectores ETSE e Inlens permitem obter informações de alta resolução sobre a forma da superfície. O modo de pressão variável com o detector VPSE ou C2D permite obter imagens nítidas. A imagem eletrônica de transmissão de alta resolução pode ser realizada com o detector aSTEM. O uso de diferentes detectores BSE opcionais, como o detector aBSD, permite um estudo aprofundado da composição e da superfície da amostra.

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Modo NanoVP Lite

O modo NanoVP lite para análise e imagem permite obter uma qualidade de imagem superior em condições de baixa tensão e obter dados analíticos mais precisos mais rapidamente.

·No modo NanoVP lite, o efeito da saia diminui e o comprimento do caminho do fluxo de feixe entrante (BGPL) diminui. A redução da saia aumenta a relação sinal-ruído para imagens de SE e BSE.

·O aBSD retrátil com cinco arcos circulares oferece excelente revestimento dos componentes do material: durante o trabalho do NanoVP lite, o detector é equipado com uma caixa de fluxo de feixe montada debaixo das botas polares, que fornece imagens de revestimento elevado de componentes e formas de superfície de alto fluxo e baixa tensão para pressões variáveis ​​e condições de alto vácuo.


Ciências da Vida

Saiba mais sobre as estruturas microscópicas e nanoscópicas de protóticos ou fungos e obtenha ultra-microestruturas em amostras de corte ou folhas finas.

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Ciências da Terra e Recursos Naturais

Explore rochas, minerais e metais.

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Aplicações industriais

Saiba como pesquisar metais, ligas e pó.

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