Testador de Surge

Testador de SurgeApresentação:

O NSG 3040 da Teseq é um gerador multifuncional para simular os efeitos de interferência eletromagnética em testes de resistência, que é fácil de operar e multifuncional para atender aos requisitos de teste EMC condutor para empresas, domésticos e padrões, incluindo IEC / EN e testes de marca CE. O NSG 3040 adota a filosofia de projeto da empresa de testes especiais que incluem testes de transiência rápida eletrônica (EFT) e de qualidade de energia elétrica (PQT). A extensão rica permite que o sistema ofereça uma gama mais ampla de configurações de aplicações.

O NSG 3040 é um sistema multiuso que pode ser configurado e escalado de acordo com os requisitos básicos de teste para atender às necessidades de laboratórios de teste complexos. A tecnologia de conceito "Master-From" comprovada permite que um único módulo de pulso seja calibrado de forma independente e que os dados de calibração e os coeficientes de correção sejam armazenados no controlador de From. O novo módulo é fácil de instalar e não precisa voltar ao sistema NSG3040 inteiro para a calibração.

Graças à adoção de componentes técnicos, a NSG 3040 estabeleceu novos padrões em termos de tecnologia de comutação e precisão de fase e ultrapassou os requisitos dos padrões atuais. A grande tela táctil colorida de 7" com alta qualidade de imagem e contraste facilita a operação do NSG 3040. Dependendo das necessidades, a entrada pode ser feita por meio de um teclado integrado ou por meio de uma roda com uma tecla de ajuste de sensibilidade. Além disso, em ambientes de desenvolvimento, com a função TA (Chamada do Programa de Teste) incorporada, alguns cliques podem ativar o teste padrão para obter resultados conclusivos de forma rápida e confiável.

Os botões de toque convenientes tornam o valor de cada parâmetro digitado muito visível e permitem que o usuário selecione e modifique rapidamente todas as configurações. Esta operação não requer uma caneta e os parâmetros de teste podem ser editados de forma rápida e fácil. É fácil adicionar programas de teste em várias etapas, alterar a ordem dos programas e os valores dos parâmetros. No Modo Especialista, os usuários podem usar rodas para modificar parâmetros manualmente durante os testes, simplificando os limiares críticos de ativação de forma eficiente e rápida.

O download do firmware é rápido através do leitor de cartão SD. Pode ser salvo completo para testes do usuário. Em casos excepcionais de falta de espaço de armazenamento, os cartões de memória SD comprados no mercado podem ser substituídos e os arquivos de teste armazenados neles podem ser facilmente copiados para cartões SD com memória maior.

Possui uma porta Ethernet que aceita o controle externo de um computador pessoal. O software do Windows simplifica o processo de teste e permite escrever sequências de testes complexas para vários tipos de testes. Durante o processo de teste, o operador pode fazer observações e gerar relatórios de teste durante as operações de teste, aumentando a eficiência do teste.

Testador de SurgeParâmetros:

Pulso de onda combinado de onda 1,2/50 a 8/20 µs (pulso de onda combinado) — CWM 3450

Impulsos em conformidade com IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5

NSG3040 Solução 4KV flexível para aplicações CE

Tensão de pulso (circuito aberto): ±200V-4,4kV (em passos de 1V)

Corrente de pulso (curto-circuito): ±100A–2.2kA

Impedência: 2/12Ω

Polaridade: Positiva/Negativa/Alternativa

Ciclo de repetição do pulso: 10s-600s (em 1s)

Tempo de teste: 1 a 9.999 pulsos, ininterrupto

Sincronização de fase: asíncrona, sincronizada de 0 a 359° (passos de 1°)

Acoplamento: externo / interno

Teste rápido de grupo de pulsos transitórios (EFT) 5/50ns — FTM 3425

Impulsos em conformidade com IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4

Amplitude do pulso:

±200V–4,8kV (em passos de 1V) – aberto

±100V–2,4kV (sistema de correspondência 50Ω)

Frequência do grupo de pulsos: 100Hz - 1000kHz

Polaridade: Positiva/Negativa/Alternativa

Tempo de repetição: 1ms-4200s (70min)

Tempo do grupo de pulsos: 1us-1999s, pulso único, ininterrupto

Tempo de teste: 1s-1000h

Sincronização de Fase: Asíncrona, Sincronização 0-359° (1° de passo)

Acoplamento: externo / interno

Suspensão e queda de tensão — PQM 3403

Conforme às normas IEC/EN 61000-4-11 e GB/T 17626.11

Declínio de tensão e queda de tensão: caiu da tensão de entrada EUT para 0V, 0%

Uvar com transformador auto-acoplado opcional: dependendo do modelo (VAR 3005)

Uvar com transformador progressivo opcional: 0, 40, 70, 80% (INA650x)

Capacidade de corrente de impacto pico: 500A (230V)

Tempo de interrupção: 1-5 µS (carga de 100 Ω)

Tempo de ciclo: 20us a 1999s, ciclos de 1 a 99’999 vezes

Tempo de teste: 1s – 70’000min, de 1 a 99’999 ciclos, ininterrupto

Tempo de repetição: 40 µs-35 min, ciclos de 1 a 99.999 vezes

Sincronização de fase: asíncrona, sincronizada de 0 a 359° (passos de 1°)

Teste de mudança de tensão (apenas com reguladores da série VAR 3005)

Conforme às normas IEC/EN 61000-4-11 e GB/T 17626.11

0-265V (em 1V), 0-115% (em 1%) com transformador auto-acoplado opcional

Tempo de repetição: 1ms-35min, ciclos 1-99999 vezes

Duração do teste: 1ms-5s, ciclos de 1 a 250 ciclos (50Hz)

Tempo de repetição: 10ms-10s; 1-250 ciclos (50Hz), 1-300 ciclos (60Hz)

Duração do teste: 1 s–99999 min, 1–99999 eventos, ininterrupto

Sincronização de fase: asíncrona, sincronizada de 0 a 359° (passos de 1°)

Campos magnéticos de pulso gerados em conjunto com INA753 e INA701 ou 702

Conforme às normas IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9

Força de campo: 1-1200A/m (em passos de 1A/m)

Polaridade: Positiva/Negativa/Alternativa

Tempo de repetição: 5s-10min (em 1s)

Impedência: 2Ω

Fator de bobina: 0,0 – 50,00

Tempo de teste: 1 – 9’999 pulsos, ininterrupto

Sincronização de fase: asíncrona, sincronizada de 0 a 359° (passos de 1°)

Alimentação EUT: Unifásico

EUT VAC: 24 a 260Vrms, 50/60Hz (linha de fase - linha média), grande 400Hz

EUT VDC: 0 a 260VDC

Corrente EUT:

1x16Arms， Contínuo (monitoramento de temperatura)

1x25Arms， Um minuto.

EFT (grupo de pulsos) Acopla todas as linhas ao ponto de referência (GND)