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Endereço
Sala 2802, Edifício T4, Centro de Yixuan, Distrito de Bao'an, Shenzhen
Categorias do produto
Wechsel Nano Systems, Alemanha
2600-PCT-xB Configuração do rastreador de curvas de parâmetros
NegociávelAtualização em06/26
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Visão geral
O rastreador de curvas de parâmetros 2600-PCT-xB é configurado para o desenvolvimento e uso de MOSFETs, IGBTs, diodos e outros dispositivos de alta potência, exigindo uma caracterização abrangente a nível de dispositivo, incluindo medições de parâmetros como tensão de ruptura, corrente geral e capacitor. A série de configurações de rastreamento de curvas de parâmetros de alta potência da Keithley suporta todos os tipos de dispositivos e as necessidades de caracterização de vários parâmetros de teste.
Detalhes do produto
O desenvolvimento e o uso de MOSFETs, IGBTs, diodos e outros dispositivos de alta potência exigem uma caracterização abrangente a nível de dispositivo, incluindo medições de parâmetros como tensão de ruptura, corrente comum e capacitor. A série de configurações de rastreamento de curvas de parâmetros de alta potência da Keithley suporta todos os tipos de dispositivos e as necessidades de caracterização de vários parâmetros de teste.
A configuração de rastreamento de curvas de parâmetros da Gizli inclui todo o hardware necessário para um engenheiro de caracterização montar rapidamente um sistema de teste completo. A versão básica do software ACS, que deve ser encomendada separadamente, oferece funcionalidades abrangentes de caracterização do dispositivo, incluindo o modo de rastreamento em tempo real para a detecção rápida de parâmetros básicos do dispositivo, como a tensão de ruptura, e o modo de parâmetros completos para a extração de parâmetros precisos do dispositivo.
A versão básica do software ACS ultrapassa os limites de interface dos rastreadores de curvas tradicionais e oferece uma rica biblioteca de exemplos. Mais importante ainda, os usuários têm controle sobre todos os recursos de teste, criando testes mais avançados do que os rastreadores de curvas anteriores.
Características principais
・Solução completa projetada profissionalmente para alcançar a relação custo-benefício
Suporte para atualização e reconfiguração de campo Converter um rastreador de curva de parâmetros (PCT) em um dispositivo de teste de confiabilidade ou um teste de seleção de wafers
Gama de potência configurada:
Tensão: 200V a 3kV
Corrente: 1A a 100A
Ampla gama dinâmica:
– Tensão: de microvolts (µV) a kilovolts (kV)
– Corrente: de fA a 100A
Capacidade completa de teste de Capacitação – Tensão (C-V):
– Capacitação: do método de voo (fF) ao micrométodo (µF)
– Suporte para dispositivos de 2 terminais, 3 terminais e 4 terminais
– desvio de corrente contínua até 3kV
Fixas de teste de alto desempenho para suporte a vários tipos de embalagem
A interface do banco de sondas é compatível com a maioria dos tipos de sondas, incluindo triax de alta pressão (HV), coax de ultra-alta pressão (SHV), triax padrão e outros tipos
A configuração de rastreamento de curvas de parâmetros da Gizli é uma ferramenta completa de caracterização que contém os elementos-chave necessários para a caracterização de dispositivos de potência. Canal de medição por SourceMeter em Gibraltar ® Composição de instrumentos de unidade de medição de fonte (SMU) e medidores de tensão-capacitor (C-V) multi-frequência opcionais. O alcance dinâmico e a precisão desses instrumentos superam muito os rastreadores de curvas tradicionais.
Acessórios completos do sistema
Capacitante de alta tensão – Tensão (C-V)
A capacidade do dispositivo de teste está se tornando cada vez mais importante com a mudança da tensão de corrente contínua. A Guiné-Bissau fornece um capacitor multifrequência PCT-CVU – tensiométrico. Quando usado em combinação com uma conexão T de desvio de 200V ou 3kV opcional, a medição de tensão capacitiva é possível em dispositivos de segunda, três ou quatro extremidades. A capacidade medida varia de fF a 100 nF, com frequências de teste de 10 kHz a 2 MHz. A versão básica do software ACS oferece mais de 60 testes de tensão e capacitação pré-definidos, incluindo o capacitor de entrada (Ciss), o capacitor de saída (Coss), o capacitor de transmissão inversa (Crss), o capacitor de fuga (Cgd), o capacitor de gate (Cgs), o capacitor de fuga (Cds) do MOSFET e um conjunto completo de testes para outros dispositivos, como transistores bipolares (BJT), diodos e outros. Como sempre, os usuários podem desenvolver algoritmos de teste exclusivos na versão básica do ACS.
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