Sonda de microscópio de força atômica AFM

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Parâmetros da sonda do microscópio de força atômica afm: ponta da agulha: 10nm constante mecânica: 48N / m (28-75N / m) frequência de ressonância: 190KHz (160-220KHz) comprimento: 225 um (215-235um) largura: 38 um (33-43um) espessura: 7 um (6-8um) revestimento: revestimento reflexo de alumínio no lado do detector de braço, espessura de 30 nm

Detalhes do produto

Sonda de microscópio de força atômica AFMParâmetros técnicos

Ponta da agulha: <10nm

Constante mecânica: 48N/m (28-75N/m)

Frequência de ressonância: 190KHz (160-220KHz)

Comprimento: 225 um (215-235um)

Largura: 38 um (33-43um)

Espessura: 7 um (6-8um)

Revestimento

Detector de sonda de microscópio atômico afm com revestimento reflexo de alumínio no lado, 30 nm de espessura

Hangzhou Glampa Technology Co., Ltd. foi fundada em 2006 e pertence ao Grupo de Holdings Glampa de Hong Kong. A empresa concluiu acordos de parceria estratégica com a Asylum Research dos EUA, AFMworkshop dos EUA, Kammrath & Weiss da Alemanha, Nanomaker da Rússia, Stil da França e Optics11 da Holanda para se tornar o seu agente geral ou representação na China, onde a empresa se especializa em microscópios de força atômica, acessórios de eletroscópio, bionano-pressing e fornece serviços técnicos relacionados. Após 12 anos de rápido desenvolvimento, a empresa estabeleceu uma equipa de pré-venda e pós-venda perfeita e recebeu ampla aclamação do Instituto de Pesquisa Científica Cooperativa.

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