Microscópio de força atómica portátil

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Visão geral

O microscópio portátil de força atômica permite observar a morfologia tridimensional e a estrutura multifásica da microregião da amostra (a nível nanométrico) sem perturbar a estrutura interna da amostra; Ao mesmo tempo, as propriedades físicas e químicas da superfície da amostra podem ser estudadas, avaliadas numéricamente e analisadas.

Detalhes do produto

Microscópio de força atómica portátilModo de trabalho:

1. Modo de trabalho padrão:

1.1 Modo de vibração

Modo de Contato (Contact Mode)

Imagem em fase (Phase Imaging)

Microscopia de força lateral (LFM)

1.5 Módulo de Yang medido pela curva de força

1.6 Nanomanipulação

1,7 nanografia (nanolitografia)

1.8 Matriz de Forças (Force Mapping)

Teste de atrito (Friction Mode)

2. Modo de trabalho opcional:

Modo de microscópio magnético (MFM)

Modo de microscópio elétrico estático (EFM)

Modo de microscópio condutor (C-AFM)

Modo de varredura líquida (Liquid Scan Mode)

A AFMWorkshop é uma empresa especializada em projetar e fabricar microscópios de força atômica. A empresa foi fundada pelo Dr. Paul West, com 30 anos de experiência em microscópio de força atômica, e autor do livro Atomic Forces Microscopes.

Microscopia de força atômica portátilParâmetros técnicos

Alcance de varredura: 100 μm, 50 μm, 15 μm

Faixa de direção Z: 17 μm, 7 μm

Resolução de condução direcional XY: 0,01 nm

Resolução de accionamento na direção Z: 0,003 nm

Nível de ruído medido na direção Z: 0,15 nm

Tamanho da amostra: 25mm de diâmetro

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