Microscópio de força atómica compacto

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Visão geral

O microscópio de força atômica compacto permite observar a morfologia tridimensional e a estrutura multifásica (a nível nanométrico) da microárea da amostra sem perturbar a estrutura interna da amostra; Ao mesmo tempo, as propriedades físicas e químicas da superfície da amostra podem ser estudadas, avaliadas numéricamente e analisadas.

Detalhes do produto

Microscópio de força atómica compactoModo de trabalho:

1. Modo de trabalho padrão:

1.1 Modo de vibração

Modo de Contato (Contact Mode)

Imagem em fase (Phase Imaging)

Microscopia de força lateral (LFM)

1.5 Módulo de Yang medido pela curva de força

1.6 Nanomanipulação

1,7 nanografia (nanolitografia)

1.8 Matriz de Forças (Force Mapping)

Teste de atrito (Friction Mode)

2. Modo de trabalho opcional:

Modo de microscópio magnético (MFM)

Modo de microscópio elétrico estático (EFM)

Modo de microscópio condutor (C-AFM)

Modo de varredura líquida (Liquid Scan Mode)

A AFMWorkshop é uma empresa especializada em projetar e fabricar microscópios de força atômica. A empresa foi fundada pelo Dr. Paul West, com 30 anos de experiência em microscópio de força atômica, e autor do livro Atomic Forces Microscopes.

Microscópio de força atómica compactoParâmetros técnicos

Alcance de varredura: 100 μm, 50 μm, 15 μmZ

Faixa de direção: 17 μm, 7 μm

Resolução de condução direcional XY: 0,01 nm

Resolução de accionamento na direção Z: 0,003 nm

Nível de ruído medido na direção Z: 0,15 nm

Tamanho da amostra: 25mm de diâmetro

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