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5º andar, edifício C7, Lane 456, Rua Jiangqiao, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Xangai Paohun Instrumento Tecnologia Co., Ltd.
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13761038296
5º andar, edifício C7, Lane 456, Rua Jiangqiao, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Vantagens principais- Colaboração de equipamentos duplos para resolver problemas científicosLuz fraca dupla de alta resoluçãoMonocrométrico rasterizado de alta precisão (estrutura C-T + calibração de superfície ultraanel, dispersão de luz ≤ 1 × 10)⁻⁶Espectro de separação precisa com retro de refrigeração profundaCâmera fotográfica CMOS (eficiência quântica máxima de 92%, 0,9 e)⁻Baixo ruído de leitura), exposição longa 60min sem interferência, captura fácilsinais transitórios fracos como luminescência química e fluorescência.
Cobertura completa em banda largaCobertura monocromática de 200-1100 nm (expansível até 1700 nm) com suporte para opções multi-raster de 150-2400 g/mm; Adaptação da câmeraDetecção de alta sensibilidade de 400-1000nm com cobertura total do sistema UV-VIS-NIR para atender às necessidades de pesquisa científica em bandas cruzadas.
Quantidade precisa de baixo ruídoCorrente escura da câmera < 0,0005 e⁻/ p / s (até o nível de CCD frio profundo) + DPC correção de pontos ruins, em combinação com monocromáticos de até 0,015nmRepetibilidade de comprimento de onda, eliminação de desvios de dados, adaptação à medição de eficiência quântica, quantificação de poluentes em traços e outros experimentos de alta precisão.Integração flexível e fácil de usar Conectar e operar espectrômetros e câmeras de pesquisa entre marcas sem alternar entre softwares diferentes para construir um futuro totalmente compatível com a marcaSuperplataforma que permite a integração ilimitada de conexões entre diferentes dispositivos de uma variedade de marcas diferentes.
Espectralmente
O SPECTRALMIND é uma capacidade desenvolvida pela nossa empresa.Integração perfeita e ligação inteligente de câmeras de espectrômetros de diferentes marcassoftware capaz. Até o momento, conseguimos conectar vários famososEspectrómetros e câmeras que tornam a colaboração entre dispositivos mais fácilÉ simples. No futuro, vamos expandir-nos para toda a marca.Tornar-se uma plataforma operacional universal para a pesquisa científica espectral.






Espectrómetro (@ 1200 g / mm rastre) | |
Distância focal (milímetros) |
320 |
Diâmetro relativo |
F/4.2 |
Estrutura óptica |
C-T |
Passo de digitalização (nm) |
0.005 |
Luz dispersa |
1X10-5 |
Plano focal (milímetros) |
30 (w)X14(h) |
Altura do eixo óptico (milímetros) |
146 |
Especificações do raster (milímetros) |
68x68 |
Ángulo completo de emissão do espectrômetro |
12.5° |
Mesa de rasterização |
Três rastres |
Especificações de fenda |
Largura da costura0.01-3mm ajustável manualmente contínuo, com fenda automática opcional. Costura alta:2, 4 e 14mm opcionais |
Dimensões (milímetros) |
420x295x232 |
Peso (Kg) |
16 |
Consumo de energia |
Pico100W@24V |
Interface de comunicação |
PadrãoUSB 2.0,RS-232 |
Rastra (g/milímetro) |
2400 |
1800 |
1200 |
600 |
300 |
150 |
75 |
|
|
Difusão inversa (nm/milímetro) @ 435.83nm |
0.91 |
1.39 |
2.29 |
4.87 |
9.97 |
20.13 |
40.43 |
|
Alcance de varredura mecânica (nm) |
0-600 |
0-800 |
0-1200 |
0-2400 |
0-4800 |
0-9600 |
0-19200 |
|
Passo de digitalização (nm) |
0.0025 |
0.0035 |
0.005 |
0.01 |
0.02 |
0.04 |
0.08 |
|
Resolução espectral de fenda(nm) |
10 milímetros |
0.05 |
0.07 |
0.08 |
0.16 |
0.32 |
0.64 |
—— |
100μm |
—— |
—— |
0.23 |
0.46 |
0.92 |
1.84 |
3.7 |
|
|
Resolução espectral (nm) @CCD(15µm) |
0.069 |
0.105 |
0.173 |
0.368 |
0.754 |
1.52 |
3.05 |
|
|
CCDEscala de espectro único (nm@30mmCCD) |
27.6 |
41.7 |
68.7 |
146.1 |
299.1 |
603.9 |
1212.9 |
|
Precisão do comprimento de onda (nm) |
±0.1 |
±0.15 |
±0.2 |
±0.4 |
±0.8 |
±1.6 |
±3.2 |
|
Repetibilidade do comprimento de onda (nm) |
0.015 |
0.02 |
0.025 |
0.05 |
0.1 |
0.4 |
0.8 |
|
câmera | |
Tipo de chip |
CMOS da BSI |
Tipo de chip |
SONY IMX571BLR-J (em inglês) |
Cor / preto e branco |
preto e branco |
Dimensão da diagonal |
28,3 milímetros (1,8') |
Área eficaz |
23,4 mm × 15,6 mm |
Tamanho do pixel |
3,76 μm × 3,76 μm |
Resolução |
6244 x 4168 |
Corrente escura |
<0,0005 e-/p/s |
Profundidade |
16 bits |
Modo de ganho |
Gain0 - armadilha cheia; Gain 1 - equilíbrio; Gain2 - Sensibilidade |
Capacidade total de armadilha |
50 ke-@Ganho 0; 15 ke-@Ganho 1; 3 ke-@Gain2 |
Modo de leitura |
Padrão, baixo ruído |
|
Leia o ruído (leitura padrão) |
3.2 e-@Ganho 0; 1.2 e-@Ganho 1; 1.0 e-@Ganho 2 |
Taxa de quadros |
6,5 fps |
Tipo de obturador |
Cortinas |
Tempo de exposição |
34,7 μs ~ 60 minutos |
Correção de imagem |
DPC |
ROI (retorno de investimento) |
Apoio |
Binning |
2×2, 3×3, 4×4, 5×5, 6×6, 8×8, 16×16 |
Temperatura de refrigeração |
-25 ℃ @ temperatura ambiente (22 ℃) |
Atigar saída |
Exposição começa, panorâmica, leitura termina, Alto nível, baixo nível |
Interface de acionamento |
Horizonte |
O SDK |
C, C++, C# |
Interface de dados |
USB 3.0 (em inglês) |
fonte de alimentação |
12V / 6A |
Ambiente operacional |
Temperatura 0 ~ 40 ° C, umidade 10 ~ 85% |
Ambiente de armazenamento |
Temperatura - 10 ~ 60 ° C, umidade 0 ~ 85% |
Tamanho da câmera |
85 mm × 85 mm × 95 mm |
ØAplicações típicas
²RamanAnálise espectral:Comprimento de onda da luz de acordo com a dispersão não elástica,Análise das concentrações de distribuição de diferentes substâncias na amostra,Obter o espectro de Raman
²Biofluorescência:92% câmera de eficiência quântica + monocromático de baixa dispersão para eliminar interferências de fundo e identificar biomarcadores
²Estressedetecção:Detecta o deslocamento do pico de Raman com dispersão não elástica através da irradiação de amostras a laser. Detectar o stress residual do chip de resistência de silício e do sensor após o encapsulamento do chip durante o processo de encapsulamento e aplicar a amostramapping, Obter um mapa de distribuição do estresse
