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5º andar, edifício C7, Lane 456, Rua Jiangqiao, Nova Distrito de Pudong, Xangai
Xangai Paohun Instrumento Tecnologia Co., Ltd.
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13761038296
5º andar, edifício C7, Lane 456, Rua Jiangqiao, Nova Distrito de Pudong, Xangai
ØPrincípio de funcionamento
O laser é focado na superfície da amostra e o espectrómetro capta o espectro de emissão da amostra.
2. amostra Escaneamento de eixos X e Y para obter o espectro fotogênico de cada coordenada; O eixo Z ajusta o objetivo para manter a amostra focada- É.
Após a coleta de milhões de espectros, o software de análise extrai energia e intensidade de pico para gerar imagens físicas de alta resolução e alto contraste.

ØCobertura das funções principais
O sistema de microespectroscopia tem um design modular que permite que os pesquisadores alternem rapidamente as faixas de comprimentos de onda e configurações experimentais, facilitando a substituição de componentes de comprimentos de onda em cinco minutos.
Além da análise fotogênica (PL), o sistema também permite a captação e análise de microespectroscopia Raman, microespectroscopia de reflexão e correntes microópticas.

Vantagens principais
ØDesign modular e integração multifuncional
Projeto modular |
Integração multifuncional |
Sistema de microespectroscopia Mini ProCom o design óptico universal e o design modular, os pesquisadores podem alternar rapidamente a faixa de comprimento de onda e a configuração experimental substituindo módulos de componentes de comprimento de onda. |
Iluminação (PL) Análise |
Microscopia RamanAnálise espectral Raman | |
Análise de corrente microscópica | |
Scan de três eixos X, Y e Z | |
Análise de luminosidade elétrica | |
Análise da Vida de Fluorescença TRPL | |
Análise de medição de baixa temperatura |
ØFoco automático
Foco automático |
Parâmetros-chave |
Tecnologia de auto-pesquisa, adaptação de amostras ásperas/ Inclinação / Superfície curva, manchas laser sempre focadas |
Amplo espectro: 200-1700 nm |
Resolução espacial: submicrônicos (0,35 μm) | |
Captura espectral: milhões | |
Capa de proteção incorporada para isolar a diferença de temperatura / poeira / interferência da luz ambiental |
Software: Ajuste de pico rápido |
Custo: econômico e prático, suporte à personalização |

Especificações técnicas
Categorias |
Parâmetros específicos |
Comprimento de onda de excitação |
266-980 nm |
Scanner de amostra XY |
Alcance do percurso: 5mm ou 10mm Precisão de repetição: 20nm |
Scanner Objetivo Z |
Alcance do percurso: 400 μm Precisão de repetição: 5nm |
|
Tempo de coleta (Tempo de validação 10ms) |
100μm × 100μm, 0,5μm 步长: 6 minutos 5mm x 5mm, 50 μm 步长: 2 minutos 5mm x 5mm, 5μm passo: 3h |
Observação de amostras |
LED、 Câmera monocromática |
fonte de alimentação |
120V e 60Hz |
Interface de dados |
USB 3.0 (em inglês) |
Dimensão Peso |
43cm x 38cm x 58cm, 14Kg |

Sistema de Análise de Software
Aceleração da análise da GPU |
Adotando a tecnologia de adaptação de pico de aceleração da GPU, |
Apropriação de milhões de espectros em uma hora. | |
Suporta a adaptação de picos de múltiplas características, | |
Os usuários podem escolher usar funções padrão ou personalizadas. | |
Funcionalidade de análise de dados |
Extrair rapidamente o pico de energia e intensidade de cada espectro, |
Gerar imagens físicas de alta resolução e alto contraste, | |
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Imagem pseudo-colorida apresenta intuitivamente parâmetros de pico característicos (unidade de energia eV) |
Aplicações típicas e casos científicos
ØDiodos luminosos verdes (LED) Identificação de defeitos
A imagem abaixo é um diodo luminoso verde O mapa de luminosidade fotogênica (PL) do LED mostra a intensidade do pico de luminosidade e a energia do pico no defeito do LED verde, respectivamente.
O experimento foi medido cobrindo a resina epóxida com um ponto convexo transparente e hemisférico formado no chip LED.

Ø Composição e distribuição de ligas de semicondutores
Através da análise de pico, pode ser usado para analisar as propriedades físicas dos materiais, como a composição química.
O gráfico abaixo mostra as mudanças na distribuição espacial do teor de zinco (Zn) no cadmium-zinco (CdZnTe).

ØMedição de luminosidade a baixa temperatura
Este componente de medição de baixa temperatura inclui garrafas de Duva, bombas de vácuo, controladores de temperatura, etc. para coletar dados fora da caixa.

ØMedição fotogênica e Raman em um

Uma análise espectral de Raman do pico da cor do cabelo e da região ultravioleta descobriuSilício-Hidrogênio (Poluentes da estrutura de ligação Si-CH).
De"Fotoluminescência e mapeamento Raman de β-Ga2O3", AIP Advances (2021)”
O mapa fotoluminescente (PL) revela o óxido de gálio (Ga)₂O₃Distribuição de defeitos no material.
Emissores UV localizados na superfície de Ga2O3, Relatórios Científicos (2020)

(a) O mapa de Raman para TiO2, marcando áreas de titânio agudo, rubia e amorfose.
b) Espectro de Raman para a área selecionada.De “Transição de fase localizada do TiO2 Filmes finos induzidos pela irradiação laser sub-bandgap", J. Vac. Ciência. Tecnologia A (2021).
Módulo de comprimento de onda
Perto IR | |
Laser |
Laser de 975 nm, 30-100 mW |
Espectrómetro |
NIRQuest+, 900-1700 nm |
Perto de IR, Raman | |
Laser |
Laser de 785 nm, 250 mW |
Espectrómetro |
QE Pro, 100-2800 cm-1 |
Vermelho | |
Laser |
Laser de 635 nm, 1-2 mW |
Espectrómetro |
Maya Pro,635-1060nm |
Verde | |
Laser |
Laser de 532 nm, 4-5 mW |
Espectrómetro |
Maya Pro,532-960nm |
Verde, Raman | |
Laser |
Laser de 532 nm, 30-140 mW |
Espectrómetro |
QE Pro, 90-4000 cm-1 |
Violeta | |
Laser |
Laser de 405 nm, 1-2 mW |
Espectrómetro |
Maya Pro,405-840nm |
Perto do UV | |
Laser |
Laser de 349 nm, 0-20 mW |
Espectrómetro |
Maya Pro,349-780nm |
UV profundo | |
Laser |
Laser de 266 nm, 5 mW |
Espectrómetro |
Maya Pro,266-700 nm |
Módulo pronto para uso, instalação e depuração simples, suporte a componentes personalizados
| Seleção do sistema
ØMicroscópio padrão
uOrientação central: configuração inicial básica
uCaracterísticas principais: sem espectrômetro
uAplicação: Necessidades básicas de microobservação

ØSistema de microespectroscopia Mini Pro Microscope
uOrientação principal: modelo de pesquisa científica principal
uCaracterísticas principais: função de análise espectral integrada, suportePL、 Raman,Vários modos de medição, como corrente óptica
uCenário de aplicação: Análise espectral abrangente de materiais

ØSistema de microespectroscopia de nível de wafer Premium Microscope
uOrientação principal: configuração profissional
uCaracterísticas principais: otimizado para amostras de nível de wafer, com maior alcance de digitalização

